高溫老化房里進(jìn)行的電子產(chǎn)品高溫老化時(shí)，不同的產(chǎn)品老化的時(shí)間和溫度各有不同。很多產(chǎn)品老化達(dá)到幾百小時(shí)的老化周期，在這個(gè)老化期內(nèi)，設(shè)備不能停機(jī)，老化不能中斷，而且實(shí)驗(yàn)人員還必須實(shí)時(shí)觀察老化中產(chǎn)品的性能，并且記錄數(shù)據(jù)。因?yàn)楫a(chǎn)品在高溫老化的過(guò)程中就是不斷的暴露顯現(xiàn)出產(chǎn)品在自制過(guò)程或者設(shè)計(jì)中出現(xiàn)的故障和問(wèn)題，以及通過(guò)高溫老化對(duì)產(chǎn)品產(chǎn)生物化變化而使產(chǎn)品達(dá)到使用要求和技術(shù)規(guī)范。如果中途停止、中斷了高溫老化測(cè)試，那么這個(gè)產(chǎn)品的高溫老化測(cè)試的性和可靠性就會(huì)降低。
如果在高溫老化試驗(yàn)時(shí)產(chǎn)品在老化時(shí)間還沒(méi)有到、老化沒(méi)有結(jié)束時(shí)，也就是老化試驗(yàn)的過(guò)程中出現(xiàn)了故障，這種情況下能停止其高溫老化測(cè)試嗎？
答案是：在高溫老化測(cè)試過(guò)程出現(xiàn)這樣的問(wèn)題，首先要區(qū)分此故障產(chǎn)品只是功能性的故障還是*性不可恢復(fù)的故障。如果根據(jù)實(shí)驗(yàn)數(shù)據(jù)和觀察判斷發(fā)現(xiàn)為此產(chǎn)品的故障是*性的故障就需要停止高溫老化測(cè)試，同時(shí)實(shí)驗(yàn)人員需要記錄此故障產(chǎn)品在高溫老化測(cè)試下出現(xiàn)故障的時(shí)間和故障點(diǎn)。如果只是功能性的故障就需要記錄相同的環(huán)境下要多久才能恢復(fù)其故障的功能性，或者在常溫的環(huán)境下多久恢復(fù)其功能性。
所以電子產(chǎn)品在高溫老化試驗(yàn)過(guò)程中能不能中斷這個(gè)疑問(wèn)要根據(jù)實(shí)驗(yàn)產(chǎn)品出現(xiàn)的故障點(diǎn)判斷。
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