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深圳市匯馳恒達(dá)科技有限公司
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Chroma 19305中國(guó)臺(tái)灣致茂繞線(xiàn)元件脈沖測(cè)試器
  • Chroma 19305中國(guó)臺(tái)灣致茂繞線(xiàn)元件脈沖測(cè)試器

貨物所在地:廣東深圳市

地: 中國(guó)臺(tái)灣

更新時(shí)間:2025-01-23 21:00:07

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Chroma 19305中國(guó)臺(tái)灣致茂繞線(xiàn)元件脈沖測(cè)試器:
Chroma 19305為繞線(xiàn)元件脈沖測(cè)試器,系列機(jī)種包含19305單通道及19305-10 10通道輸出測(cè)試,Z高擁有6kV脈沖電壓與200MHz高速取樣率 提高放電檢測(cè)能力,10uH感量以上產(chǎn)品測(cè)試,擁 有波形面積比較、波形面積差比較、波形顫動(dòng)總量 (Flutter) 及波形二階微分?jǐn)?shù)等判定 方法,可有效檢測(cè)線(xiàn)圈自體絕緣不良。

Chroma 19305中國(guó)臺(tái)灣致茂繞線(xiàn)元件脈沖測(cè)試器的技術(shù)特點(diǎn):
Chroma 19305為繞線(xiàn)元件脈沖測(cè)試器,系列機(jī)種包含19305單通道及19305-10 10通道輸出測(cè)試,zui高擁有6kV脈沖電壓與200MHz高速取樣率 提高放電檢測(cè)能力,10uH感量以上產(chǎn)品測(cè)試,擁 有波形面積比較、波形面積差比較、波形顫動(dòng)總量 (Flutter) 及波形二階微分?jǐn)?shù)等判定 方法,可有效檢測(cè)線(xiàn)圈自體絕緣不良。

主要特色:

  • 脈沖測(cè)試高取樣率(200MHz)
  • 6kV 可程式脈沖測(cè)試
  • 崩潰電壓分析
  • 高速測(cè)試
  • 單機(jī)zui大10通道掃描測(cè)試(19305-10)
  • 可選配外接高壓掃描治具(40ch max.)
  • 繁中/ 簡(jiǎn)中 / 英文操作介面
  • USB波形儲(chǔ)存& 畫(huà)面擷取功能
  • 圖形化彩色顯示
  • 標(biāo)準(zhǔn)LAN,USB,RS232介面

Chroma 19305中國(guó)臺(tái)灣致茂繞線(xiàn)元件脈沖測(cè)試器的技術(shù)說(shuō)明:

Chroma 19305為繞線(xiàn)元件脈沖測(cè)試器,系列機(jī)種包含19305單通道及19305-10 10通道輸出測(cè)試,zui高擁有6kV脈沖電壓與200MHz高速取樣率 提高放電檢測(cè)能力,10uH感量以上產(chǎn)品測(cè)試,擁 有波形面積比較、波形面積差比較、波形顫動(dòng)總量 (Flutter) 及波形二階微分?jǐn)?shù) (Laplacian) 等判定 方法,可有效檢測(cè)線(xiàn)圈自體絕緣不良。

繞線(xiàn)元件于生產(chǎn)檢測(cè)包含電氣特性、電氣安規(guī)耐 壓進(jìn)行測(cè)試,而線(xiàn)圈之自體絕緣不良通常是造成 線(xiàn)圈于使用環(huán)境中發(fā)生層間短路、跨線(xiàn)短路、出 腳短路之根源。其形成原因可能源于初始設(shè)計(jì)不良、加工制程不良或絕緣材料之劣化等所引起, 故加入線(xiàn)圈層間短路測(cè)試有其必要性。

所謂的『繞線(xiàn)元件脈沖測(cè)試』基本上是以一『非 破壞性』、高速、低能量之電壓脈沖施加在待測(cè)物 上,再藉由分析/比對(duì)待測(cè)物良品與不良品之等 效波形以達(dá)到判定良否之目的。繞線(xiàn)元件脈沖測(cè) 試主要功能乃在早期發(fā)現(xiàn)繞線(xiàn)元件中各種潛在之 缺陷,例如:層間短路、甚至是不易發(fā)覺(jué)之部分放 電等。

Chroma 19305為針對(duì)繞線(xiàn)元件測(cè)試需求所設(shè) 計(jì),利用一高壓充電之微小電容(測(cè)試能量低)與 待測(cè)線(xiàn)圈形成RLC并連諧振,由諧振之衰減波形, 透過(guò)高速且精密的取樣處理分析技術(shù),可檢驗(yàn)出 線(xiàn)圈自體之絕緣不良及局部放電,提供變壓器、 電感等繞線(xiàn)產(chǎn)品進(jìn)行層間短路測(cè)試,讓繞線(xiàn)元件 生產(chǎn)廠(chǎng)商及使用者在品質(zhì)驗(yàn)證時(shí),不但擁有可靠 的測(cè)試品質(zhì),能更有效率為產(chǎn)品品質(zhì)把關(guān)。

Chroma 19305對(duì)于產(chǎn)線(xiàn)上的測(cè)試需求提供多 通道掃描應(yīng)用(zui大10通道) ,單機(jī)10通道輸出可達(dá)成一次多顆掃描測(cè)試,節(jié)省測(cè)試時(shí)間及人力成 本。

的技術(shù)說(shuō)明:

四種波形判定模式

  • 波形面積比較 (Area Size)
  • 波形面積差比較 (Differential Area)
  • 波形顫動(dòng)總量 (Flutter Value)
  • 波形二階微分?jǐn)?shù) (Laplacian Value)


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