致茂Chroma Model 11090-03射頻LCR數(shù)字電橋

射頻 LCR 錶MODEL 11090-030

Chroma 11090-030 射頻LCR錶為一提供貼片電感及射頻濾波器等被動(dòng)元件高頻量測評估解決方案。其高達(dá)300MHz的測試頻率，對於POL或一般小型DC-DC Converter之電感元件，不僅滿足日益增高的標(biāo)稱頻率測試外，更可滿足需要於超高頻檢測才能測出之品質(zhì)異常。此外，同樣能滿足如EMI-Filter、Ferrite Bead等慣用的100MHz阻抗測試需求。涵蓋量測項(xiàng)目 Z, θz, Y, θy, R, X, G, B, Ls, Lp,Cs, Cp, Rs, Rp, D, Q 等各種被動(dòng)元件測試所需的主、副參數(shù)。100kHz~300MHz的寬廣測試頻率範(fàn)圍，採用RF式電流電壓轉(zhuǎn)換技術(shù)，其優(yōu)於網(wǎng)路分析儀技術(shù)的阻抗量測範(fàn)圍，高於自動(dòng)平衡橋技術(shù)的頻率量測範(fàn)圍，適合研發(fā)與品保單位分析被動(dòng)元件於不同頻率下的特性。此外，搭載超低雜訊、低諧波失真訊號產(chǎn)生模組，賦予量測訊號高品質(zhì)純淨(jìng)度，進(jìn)而提升阻抗測試的準(zhǔn)確性。0.8%的基本量測準(zhǔn)確度使量測結(jié)果呈現(xiàn)高穩(wěn)定性與高可靠性，0.5ms的快速量測可搭配自動(dòng)化機(jī)臺，能有效率地大幅提高產(chǎn)量。符合多種小型的SMD測試治具，採用改進(jìn)的下壓方式，可旋轉(zhuǎn)90度並僅需三個(gè)步驟來更換待測物 (實(shí)際測試約40秒)，能替使用者減少更換不同尺寸待測物的時(shí)間、加快測試速度、免除反覆拆裝限位墊片，進(jìn)而減少損耗與後續(xù)客戶的維護(hù)費(fèi)用。Chroma 11090-030 射頻LCR錶藉由全面性設(shè)計(jì)的規(guī)格考量與重點(diǎn)式的功能強(qiáng)化，不論是在產(chǎn)品特性研發(fā)與分析、自動(dòng)化產(chǎn)線快速測試或是各式零件進(jìn)出料管理，皆為完善的測試解決方案，為您提供市場上少數(shù)既有解決方案之外全新的選擇。

致茂Chroma Model 11090-03射頻LCR數(shù)字電橋

射頻 LCR 測量非常依賴正確的校正 (OPEN/SHORT/LOAD) ， 過程錯(cuò)誤或漏掉某一項(xiàng)則很容易造成錯(cuò)誤的結(jié)果。11090-030 具有嚮導(dǎo)功能的校正/補(bǔ)償方法能消除繁瑣的校正/補(bǔ)償程序之錯(cuò)誤，讓使用者具有引導(dǎo)式校正程序，降低漏掉項(xiàng)目的風(fēng)險(xiǎn)、並且有圖示指引降低取錯(cuò)標(biāo)準(zhǔn)件的錯(cuò)誤，對於已完成校正程序者，測試畫面也有對應(yīng)的顯示。