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產(chǎn)品簡(jiǎn)介
詳細(xì)介紹
測(cè)試適用范圍：
元器件測(cè)試-適用于所有類(lèi)型的集成電路的測(cè)試和元器件的篩選測(cè)試
電路板測(cè)試-適用各種電路板的檢測(cè)（附加測(cè)試電纜線(xiàn)和各種封裝的測(cè)試夾）
測(cè)試原理（v-i曲線(xiàn)測(cè)試）：
對(duì)元器件的每個(gè)管腳施加一個(gè)安全的低功率的掃描驅(qū)動(dòng)信號(hào)，產(chǎn)生一個(gè)阻抗特征圖，以備對(duì)比和存儲(chǔ)。
被測(cè)器件和數(shù)據(jù)庫(kù)中標(biāo)準(zhǔn)動(dòng)態(tài)阻抗圖相比對(duì)，阻抗圖的差異大小即可判斷元件的好壞和可用性。
測(cè)試信號(hào)可設(shè)定的參數(shù)包括: 電壓、波形、源電阻、頻率?？筛鶕?jù)需要進(jìn)行調(diào)整以便得到準(zhǔn)確的信息。
集成電路測(cè)試操作如此簡(jiǎn)單:
1.從數(shù)據(jù)庫(kù)選擇要測(cè)試的集成電路型號(hào).
2.將集成電路插入測(cè)試座.
3.執(zhí)行測(cè)試
4.得到PASS或FAIL的測(cè)試結(jié)果.