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產(chǎn)品簡介
詳細(xì)介紹
DS/JB4040表面污染檢測(cè)儀，適用于低水平β、γ輻射表面污染檢測(cè)，同時(shí)也適用與X、γ輻射劑量率的監(jiān)測(cè)。儀器采用GM探測(cè)器陣列，具有較高的探測(cè)效率；是環(huán)境實(shí)驗(yàn)室、核醫(yī)學(xué)、分子生物學(xué)、放射化學(xué)、核原料運(yùn)輸、儲(chǔ)存和商檢等領(lǐng)域進(jìn)行β、γ輻射表面污染檢測(cè)或Xγ輻射防護(hù)監(jiān)測(cè)的理想儀器，該儀器采用單片機(jī)控制，LCD液晶顯示，讀數(shù)清晰、操作方便。
特點(diǎn)與功能
GM探測(cè)器陣列，探測(cè)效率高
便攜式設(shè)計(jì)，重量輕
單片機(jī)控制，軟件功能強(qiáng)
LCD液晶顯示，會(huì)話式操作界面
計(jì)數(shù)率顯示cpm、cps、μSv/h
電池失效報(bào)警
主要技術(shù)指標(biāo)
計(jì)數(shù)范圍：1～106
顯示單位：cpm、cps、μSv/h
探測(cè)器面積：35cm2
靈敏度：≥500cpm/μSv/h
劑量率范圍：0～200.00µSv/h
儀器本底：β≤130 cpm
相對(duì)誤差：測(cè)量范圍內(nèi)相對(duì)基本誤差≤20%
供電電源：2節(jié)1.5v普通1號(hào)電池，整機(jī)電流≤60mA
溫度范圍：-10℃～45℃
尺寸重量：0.64kg; 20×10×5（cm）