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Surfix S统计型测厚仪 膜厚仪 膜厚计
- 公司名称：
- 更新时间：
- 所 在 地：
- 生产地址：
- 浏览次数：
- 北京京海佳业科贸有限公司
- 2022-03-23 14:37:54
- 北京市
- 849
【简单介绍】
【详细说明】
Surfix S可换探头统计型测厚仪膜厚仪膜厚计
特点：
1.可换8种碳化钨超耐磨测头测铁基和有色金属基上镀层和涂层
2.同屏显示统计数据.可存储前200测值,分辨率0.1μm
3.根据所选探头:精度可达±0.7μm+1%,读数或范围可达10mm
4.探头需另选购
Surfix S可换探头统计型测厚仪膜厚仪膜厚计
特点：
1.可换8种碳化钨超耐磨测头测铁基和有色金属基上镀层和涂层
2.同屏显示统计数据.可存储前200测值,分辨率0.1μm
3.根据所选探头:精度可达±0.7μm+1%,读数或范围可达10mm
4.探头需另选购
Surfix S可换探头统计型测厚仪膜厚仪膜厚计
特点：
1.可换8种碳化钨超耐磨测头测铁基和有色金属基上镀层和涂层
2.同屏显示统计数据.可存储前200测值,分辨率0.1μm
3.根据所选探头:精度可达±0.7μm+1%,读数或范围可达10mm
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