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Surfix BF铁基基本型测厚仪 膜厚仪 膜厚计
- 公司名称：
- 更新时间：
- 所 在 地：
- 生产地址：
- 浏览次数：
- 北京京海佳业科贸有限公司
- 2022-03-23 14:50:02
- 北京市
- 713
【简单介绍】
【详细说明】
Surfix BF外置探头铁基基本型测厚仪膜厚仪膜厚计
特点：
l 碳化钨超耐磨测头,快反应速度
l 同屏显示
l 可测铁基体上涂镀层
l 基体上涂层,量程1500μm
l 精度±1μm+1%读数.分辨率0.1μm,读数背景光
l 有红外可接PC及打印机
技术参数：
测量范围 | 0-1500µm,0 - 60mils |
误差 | ±（1µm+1%读数） |
分辨率 | 0.1µm或小于读数的2% |
显示 | 背光，字母加数字，10mm高，4位数字显示 |
基体小面积 | 5mmX5mm |
基体小曲率 | 凸面：1.5mm凹面：5mm |
基体小厚度 | F型：0.2mm,N型：50µm |
校准 | 厂家校准，零校准，校准箔校准 |
数据接口 | 红外通讯,IrDA标准 |
环境温度/表面温度 | 0-50℃/60℃（可选配150℃） |
电源 | 两节1.5伏五号碱性电池 |
仪器尺寸 | 137x66x23mm |
符合标准 | DIN，ISO，ASTM，BS |
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