产品概览
Agilent HP 4155B 半导体参数分析仪提供四个内置源/监控单元 (SMU)、两个电压源单元 (VSU) 和两个电压监控单元 (VMU)。HP 4155B 具有非开尔文连接、10 V 分辨率和 100 mA/100 Ohm 测量范围，适合基本半导体应用。
安捷伦半导体参数分析仪的其他特性和规格包括：
高分辨率/准确度和宽范围。I：1 fA 至 1 A（20 fA 偏移精度），V：1µV 至 200 V
使用直流或脉冲模式进行全自动 IV 扫描测量
可扩展至 6 个 SMU
同步压力/测量功能
两个高压脉冲发生器单元 (±40 V)
时域测量：60µs – 可变间隔，最多 10,001 个点
易于使用：类似于曲线跟踪器的旋钮扫描
自动分析功能
自动化：内置 HP Instrument BASIC，触发 I/O 功能
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