特征 & 优点
高分辨率直流参数测量 370B（分辨率低至 1 pA 或 2 μV）
高电压和电流 使用 371B 供电（高达 3,000 V 或 400 A）
内置光标测量 - 点、窗口和功能线
Kelvin Sense 测量
扫 测量模式
波形比较和平均
可 编程 序
1.44 MB 软盘驱动器存储曲线的设置和位图
直接 使用第三方打印机进行硬拷贝
应用
参数 半导体的表征
故障分析
数据 图纸生成
制造测试
过程监控和 质量管理
进货检验
组件匹配
370B 和 371B 可编程曲线追踪器
泰克曲线跟踪器提供动力 以及用于测试半导体器件直流特性的多功能性。这 370B 和 371B 曲线示踪器结合了简单易用的前面板数字采集 以及显示器和可编程性，以满足各种应用需求。
在 R&D 实验室，Tektronix 曲线追踪器用于表征 新设计、SPICE 参数提取、故障分析和数据表 代。在制造测试中，使用泰克曲线跟踪器进行验证 设备质量和过程监控。它们也用于进料检验 要验证设备性能，请执行故障分析并匹配组件。
这 高分辨率曲线追踪器的世界标准
370B 页。
这 370B 是高分辨率曲线追踪器的世界标准，可提供高达 20 A/2,000 V 供电能力，结合 1 pA 和 50 μV 测量 分辨率。370B 可对集成的 电路、晶体管、晶闸管、二极管、SCR、MOSFET、电光元件、 太阳能电池、固态继电器和其他半导体器件。它有按钮 源和测量配置，以便于从一个测试进行更改 到下一个。
高功率曲线跟踪器
371B 页。
这 371B 是高功率曲线跟踪器，可执行 DC 参数化 对包括晶闸管在内的各种功率半导体进行表征， SCR、IGBT 和功率 MOSFET。高压集电极模式允许测试 高达 3,000 伏特的设备的关断特性。脉冲大电流 集电极模式提供大于 400 A 峰值至 测试 On-Characteristics 并允许进行高达 3,000 瓦的高功率测试。 在扫描测量模式下，371B 会自动构建一个族 的曲线，同时用低占空比脉冲刺激设备。有了这个 功能，可以显示功率曲线而不会过度加热 装置。
交互式可编程控制
交互式控制 的 370B 和 371B 测量都是从功能齐全的正面完成的 面板或 GPIB 上。每个操作参数都可以使用 GPIB 控制器。这些 驱动程序具有许多构建块来创建自定义测量解决方案。
商店 以及 Call Setups 和 Digitized Curves
多达 80 个数字化特征 曲线可以存储在软盘或内部非易失性存储器中，并且 只需按一下按钮即可召回。然后可以将实时曲线与 先前存储的曲线，用于评估温度漂移或其他变化 操作参数。为了帮助识别数据，最多 24 个字符的文本 可用于标记或注释曲线数据。
操作参数 可以使用多种存储方法进行调整、存储和调用，包括 370B 和 371B 系统内存、内置 1.44 MB 软驱或发送 通过 GPIB 控制器从外部传输。
自动光标
370B 系列 和 371B 提供三种光标测量模式。点光标提供直接 在任何点显示电压、电流、gm 或 DC beta 的屏幕读数。窗口 光标可以定位在两条曲线之间，以测量小信号 beta 或 GM 的 GM 测试，也可用于视觉 go/no-go 测试。函数 line 光标 提供斜率或截距值的屏幕读数。
扫描测量 模式
在扫描测量模式下，曲线追踪器会自动 构造一系列曲线。371B 以低占空比实现了这一点 脉冲。借助此功能，可以显示功率曲线而不会过多 设备的加热。
直接硬拷贝打印输出
曲线输出 数据可以直接从 370B 和 371B 发送到 Citizen iDP-3240Thermal 打印机。在 370B 和 371B 执行下一步任务时，可以继续打印。
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