General Photonics 的 LWA 7000 系列是光組件分析儀，以高速、高分辨率的光頻域反射測量技術(shù)為核心，為現(xiàn)代光組件和模塊（包括光子集成電路）的測試提供了高效、精確的解決方案。其特點如下：
測量功能豐富：可測量和分析插入損耗（IL）、回波損耗（RL）分布、頻率響應(yīng)以及長度。能在反射或透射模式下對光組件進行掃描，還可追蹤光路長度上的分布式 RL，對 RL 和 IL 進行光譜分析，可檢測并精確定位反射事件，測量路徑長度（最長可達 500m）。
測量精度高：采用光頻域反射技術(shù)（OFDR），測量背向散射或透射光與距離 / 時間（或波長）的函數(shù)關(guān)系。采樣分辨率高達 20μm，飛行時間延遲精度為 ±0.01%，可實現(xiàn)高精度測量。
動態(tài)范圍寬：RL 動態(tài)范圍為 70dB，靈敏度可達 - 135dB，能夠準(zhǔn)確測量微弱的光信號和較大的光功率變化，適用于各種不同損耗特性的光組件測試。
測量速度快：掃描 / 采集速率為 12Hz（80ms），可在短時間內(nèi)完成對光組件的測量，提高了生產(chǎn)測試的效率。例如，測量 20m 長度的組件僅需 0.08 秒，100m 長度的組件需 0.4 秒。
波長范圍穩(wěn)定：波長掃描范圍為 1546.69±20nm（標(biāo)準(zhǔn)）或 1546.69±5nm（可選），為特定波長范圍內(nèi)的光組件測試提供了穩(wěn)定的光源和測量條件。
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