una 6400 系列光器件分析儀是美國 General Photonics 公司推出的產(chǎn)品。其產(chǎn)品概念是為光通信及光電子領(lǐng)域提供高精度、高分辨率的光器件特性分析，以滿足研發(fā)、生產(chǎn)制造等場景下對光纖組件、光子集成電路等的測試需求。它有以下特點(diǎn)：
測量技術(shù)優(yōu)良：利用光頻域反射計(jì)（OFDR）技術(shù)，可測量背向散射或傳輸光隨距離的變化，能夠提供高精度的分布式測量結(jié)果。
測量功能豐富：可精確測量插入損耗（IL）、回波損耗（RL）分布以及長度，還能進(jìn)行光譜分析，可同時在反射和透射模式下工作，全面分析光器件的性能。
高靈敏度與分辨率：靈敏度高達(dá) - 135dB，采樣分辨率為 20μm（500m 模式下為 80μm），能夠檢測到光器件中非常微小的變化，適用于光子集成電路、硅光子學(xué)等。
測量長度可選：有不同的測量長度模式可供選擇，Luna 6415 的測量長度為 20m 和 50m（可選 100m 和 200m），Luna 6435 的測量長度為 100m、200m 和 500m，可滿足不同長度光器件和光纖網(wǎng)絡(luò)的測試需求。
動態(tài)范圍大：RL 動態(tài)范圍達(dá) 70dB，可在不同光功率水平下準(zhǔn)確測量回波損耗，適應(yīng)各種復(fù)雜的光鏈路環(huán)境。
具備自動檢測功能：能自動檢測 RL/IL 事件，方便用戶快速定位光器件中的異常點(diǎn)，提高測試效率和準(zhǔn)確性。
遠(yuǎn)程控制：支持通過 SCPI 命令進(jìn)行遠(yuǎn)程控制，便于集成到自動化測試系統(tǒng)中，實(shí)現(xiàn)批量測試和遠(yuǎn)程操作。
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