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產品簡介
詳細介紹
快速溫度變化濕熱試驗機特點
1.快速溫度變化試驗機經提取歐美及日本設計與制造工藝理念，采用前沿的制冷控制模式，可使輸出功率從0%～*自動調節(jié)壓縮機制冷量，較傳統(tǒng)平衡調溫調濕模式耗能減少30%。制冷系統(tǒng)為*壓縮機低噪音模塊化二元復疊熱交換水冷式機組設計，可使溫度循環(huán)按線性與非線性快速溫變，同時可實現溫變速率5℃/min；10℃/min；15℃/min；20℃/min；25℃/min等可靠性條件。
2.可實現溫度定值控制和程序控制（選購加裝濕度模塊），具備高低溫快速溫變（溫度循環(huán)應力篩選）、高溫高濕試驗、冷熱循環(huán)試驗、濕熱交變試驗、恒溫恒濕試驗、結露試驗等多種可靠性測試。滿足不同用戶對多種產品存在的缺陷和失效得到提前暴露和發(fā)現。
3.制冷及電控、溫控系統(tǒng)關鍵配件均采用，每臺電機均配置過流（過熱）保護/加熱器設置短路保護，確保設備運行期間高可靠性，使設備的綜合性能得到*釋放提升。
4.USB接口、以太網通訊功能，使得設備的通訊和軟件擴展功能滿足用戶多種需要，實現運行數據交換功能，能與用戶主機連接進行遠程操控，實時了解設備運行狀況，可通過任何移動終端監(jiān)控。
快速溫度變化濕熱試驗機技術參數
1.工作室容積：150L，225L，408L，500L，800L，1000L。（可定制非標機型）
2.溫度范圍：-70℃～+150℃。
3.濕度范圍：20%～98%RH；10%～98%RH；5%～98%RH。（選購模塊）
4.溫變速率：5℃/min；10℃/min；15℃/min；20℃/min；25℃/min。（選購：線性與非線性）
5.溫變范圍：-40℃～+85℃或-55℃～+125℃。（可按需求定制）
6.溫度波動度：±0.5℃。
7.溫度均勻度：±2.0℃。
8.濕度波動度：±1.0%RH。
9.濕度均勻度：±3%RH。
10.溫/濕度值偏差：≤±2.0℃/3%RH。
11.電源：AC380V（五線制）±5%。
11.制冷系統(tǒng)：*壓縮機低噪音模塊化二元復疊熱交換設計水冷式制冷機組。
12.加熱系統(tǒng)：進口SUS304#不銹鋼鰭片式耐濕、耐熱、耐寒加熱管，空氣式控溫。
13.節(jié)能方式：冷端PID調節(jié)（即加熱不制冷，制冷不加熱），比平衡調溫方式節(jié)能30%。
14.保護裝置：壓縮機過載、過流、超壓保護、漏電保護、內箱超溫保護、加熱管空焚保護。
15.快速溫度變化試驗機標準型號及規(guī)格選擇如下，可按需求非標定制。
型 號 內箱尺寸（mm） 外箱尺寸（mm）
ZK-ESS-150L W500×H600×D500 W850×H1680×D1250
ZK-ESS-225L W500×H750×D600 W850×H1880×D1350
ZK-ESS-408L W600×H850×D800 W900×H1980×D1550
ZK-ESS-500L W800×H900×D700 W1100×H2100×D1450
ZK-ESS-800L W800×H1000×D1000 W1100×H2150×D1650
ZK-ESS-1000L W1000×H1000×D1000 W1300×H2150×D1650
快速溫度變化試驗機作用
1.在研發(fā)階段協助早期發(fā)現設計問題，提高設計可靠度，縮短研發(fā)進程。
2.提早剔除早夭期失效，即降低使用時的失效率，提高MTBF或可靠度，增強使用者的信心。
3.發(fā)掘生產人員不熟練或疏忽所造成的工藝不良，確認具有潛伏性缺陷的零組件。
4.降低較高產品組合層次失效維修或報廢的概率，減低延誤、節(jié)省產品制造和維修整體成本。
5.經過應力篩選ESS的產品在顧客手中使用時的失效率較低，這可提高顧客對公司產品的信心及依賴，這是一種無形卻非常重要的效益。
快速溫度變化試驗機參考標準
1.MIL-344A-4-16 電子設備環(huán)境應力篩選。
2.MIL-2164A-19 電子設備環(huán)境應力篩選方法。
3.NABMAT-9492 美軍海軍制造篩選。
4.GJB/Z34-5.1.6 電子產品定量環(huán)境應力篩選指南。
5.GJB 1032-90 電子產品環(huán)境應力篩選方法。
6.GJB 150.3A-2009 軍用裝備實驗室環(huán)境試驗方法 第3部分：高溫試驗。
7.GJB 150.4A-2009 軍用裝備實驗室環(huán)境試驗方法 第4部分：低溫試驗。
8.GJB 150.9A-2009 軍用裝備實驗室環(huán)境試驗方法 第9部分：濕熱試驗。
9.GB/T 5170.1-2008 電工電子產品環(huán)境試驗設備檢驗方法 總則。
10.GB/T 2423.1-2008 電工電子產品環(huán)境試驗 第2部分：試驗方法 試驗A：低溫。
11.GB/T 2423.2-2008 電工電子產品環(huán)境試驗 第2部分：試驗方法試驗B：高溫。
12.GB/T 2423.3-2016 電工電子產品環(huán)境試驗 第2部分：試驗方法試驗Cab：恒定濕熱試驗。
13.GB/T 2423.4-2008 電工電子產品環(huán)境試驗 第2部分：試驗方法試驗Db：交變濕熱。
14.GB/T 2423.22-2012（IEC68-2-14）試驗N：溫度變化試驗。
15.GB/T 2423.34-2012 （IEC68-2-38）試驗Z/AD：溫度/濕度組合循環(huán)試驗。