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詳細(xì)介紹
高壓蒸煮試驗(yàn)測(cè)試箱Pressure Cook Test概述
Pressure Cook Test專業(yè)制造商與供應(yīng)商。PCT所激發(fā)對(duì)IC芯片封裝、半導(dǎo)體元器件、集成電路、PCB板等故障模態(tài)與HAST類似。二者提供的AF相差無(wú)幾，一般應(yīng)用130℃，*RH，Static bias，15PSIG（2 atm），168hou或96hous的試驗(yàn)條件引起封裝焊線拉起、芯片基座粘附性差、界面剝離、焊接基座的腐蝕、金屬化合或是引線開(kāi)路等。是評(píng)估IC產(chǎn)品在高溫，高濕，高氣壓條件下對(duì)濕度的抵抗能力，加速其失效過(guò)程的可靠性測(cè)試設(shè)備。
高壓蒸煮試驗(yàn)測(cè)試箱Pressure Cook Test技術(shù)參數(shù)
型 號(hào)： | ZK-PCT-25L | ZK-PCT-35L | ZK-PCT-45L | ZK-PCT-65L |
內(nèi)部尺寸(W×H×D)mm： | Φ250×300 | Φ300×450 | Φ450×500 | Φ600×650 |
外箱尺寸(W×H×D)mm： | 500×500×700 | 580×850×650 | 800×750×900 | 950×900×1100 |
使用溫度： | 121℃；132℃；(143℃特殊選用) | |||
使用濕度： | 100％RH飽和蒸氣濕度 | |||
使用蒸氣壓力(壓力)： | 1個(gè)環(huán)境大氣壓 +0.0Kg/cm2 - 2.0Kg/cm2 ；(3.0Kg/cm2屬于特殊規(guī)格) | |||
循環(huán)方式： | 水蒸氣自然對(duì)流循環(huán) | |||
安全保護(hù)裝置： | 缺水保護(hù)，超壓保護(hù)、 (具有自動(dòng)/手動(dòng)補(bǔ)水功能，自動(dòng)瀉壓功能) | |||
配 件： | 不銹鋼隔板兩層 | |||
電 源： | AC220V，50／60Hz／AC380V , 50／60Hz | |||
高壓蒸煮試驗(yàn)測(cè)試箱執(zhí)行與滿足標(biāo)準(zhǔn)
1.IEC60068-2-66。
2.JESD22-A102-B。
3.EIAJED4701。
4.EIA/JESD22。
5.JESD22-A102
6.EIAJED- 4701-B123