中儀光科為大家*報(bào)道：加州納米技術(shù)研究所所長陳德良，談電子顯微鏡對(duì)納米技術(shù)的工作環(huán)境。

記者：嗨， 這是勞合社陳德良。

陳德良：嗨，你好。

我加州納米技術(shù)研究所所長。 我想告訴你，簡單地說，這是掃描電子顯微鏡（SEM）。 這是一個(gè)非常的，敏感的電子顯微鏡，允許放大成千上萬倍，甚至幾百千倍。 因此，我們可以有能力的考查，觀察，看物質(zhì)，在一個(gè)大的放大倍率方式的一個(gè)樣本。 基本上，這是一種手段，在這里我們使用的電子束，這是一個(gè)電子束在這里的源。 當(dāng)你打開電源后，它升溫和您激活它，將發(fā)送電子束電子射線通過此列。  在這里，我們有電子磁透鏡，這使我們能夠集中精力和直接的電子束對(duì)某些目標(biāo)。 通過操縱這些旋鈕，我們可以重定向的電子樣本。 當(dāng)電子束撞擊標(biāo)本，它反映了一定的方向之間的電子和表面化學(xué)和樣品的物理性質(zhì)，化學(xué)性質(zhì)，使得它能夠看到的電子反射和標(biāo)本從這里電子之間的相互作用。

因此，從探測器的圖像對(duì)齊到計(jì)算機(jī)上。 在這里，我們可以觀察到在屏幕上的圖像好得多。 我們使用這種大屏幕，教我們的學(xué)生在電子顯微鏡下觀察。 這些都是我的電路的典型樣本。 我們可以放大成千上萬倍。 事實(shí)上，我們可以地測量這些microlevels尺寸甚至納米級(jí)低。 而這些都是我們從這個(gè)掃描電子顯微鏡看到的某些圖像。 關(guān)于掃描電子顯微鏡的優(yōu)點(diǎn)，它可以讓我們有一個(gè)非常準(zhǔn)確的認(rèn)識(shí)問題的表面。 它讓我們來考察，實(shí)驗(yàn)，學(xué)習(xí)，開發(fā)新產(chǎn)品，掃描電子顯微鏡發(fā)現(xiàn)下。 勞埃德陳德良與加州納米技術(shù)研究院。

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