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磚用卡尺
ZK-1磚用卡尺是河北省虹宇儀器設(shè)備有限公司自行研發(fā)的新一代滿足GB2542－2003《砌墻試驗(yàn)方法》標(biāo)準(zhǔn)的量具，磚用卡尺用于磚瓦生產(chǎn)企業(yè)、磚瓦質(zhì)檢部門對燒結(jié)普通磚、燒結(jié)多孔磚、空心磚和空心砌塊磚、燒結(jié)粘土磚、免燒磚、粉煤灰磚、爐渣磚和碳化磚等的砌墻磚外形尺寸、彎曲、雜質(zhì)凸出的測量。
磚用卡尺用來測量墻體材料尺寸偏差是一項(xiàng)直接對砌筑施工及砌體墻體材料質(zhì)量產(chǎn)生影響的重要指標(biāo)。規(guī)格尺寸達(dá)不到標(biāo)準(zhǔn)要求，如墻體材料規(guī)格尺寸偏大、偏小，或同一批墻體材料制品尺寸大小不一，在砌筑 墻體材料時(shí)可能出現(xiàn)以下問題：制品實(shí)際砌筑用量和設(shè)計(jì)計(jì)算用量有很大出入；砌筑時(shí)墻體材料制品與墻體材料制品之間的灰縫寬度不能保持一致，寬窄不一；一（皮）層 墻體材料制品鋪貼后鋪貼面不平整，高低不一；偏差過大砌筑成墻體材料后，輕則使建筑設(shè)計(jì)計(jì)算和預(yù)算方面增加不確定性，重則對結(jié)構(gòu)產(chǎn)生大量的不均勻砌筑，影響結(jié)構(gòu)承載，并會(huì)大幅度降低建筑物抗震性能。國家標(biāo)準(zhǔn)對制品的尺寸偏差所涉及的長度、寬度、高度（層厚）作了詳細(xì)的規(guī)定。
磚瓦檢測儀器：TH-W型磚碳化試驗(yàn)箱、SP-256型磚立式收縮膨脹儀、DR-2A（B）型磚凍融試驗(yàn)箱、ZSX—51型磚瓦爆裂蒸煮箱、ZFX—51型自控磚瓦泛霜箱、ZDE-20/50磚瓦抗折機(jī)、ZK-1型、CIT-3000F型低本底多道γ能譜儀、QZ型切磚器。
適用于墻體材料外觀質(zhì)量
墻體材料外觀質(zhì)量是直接影響砌筑施工墻體材料和砌體墻體材料質(zhì)量的另一重要指標(biāo)。產(chǎn)品常見的外觀質(zhì)量缺陷有：墻體材料表面的雜質(zhì)凸出、完整面、墻體材料表面疏松、層裂， 墻體材料缺棱掉角、裂紋、墻體材料無完整面、彎曲、墻體材料肋壁內(nèi)殘缺、欠火、酥啞、雨淋等；裝飾用時(shí)還有飾面色澤、花紋、墻體材料顏色等外觀質(zhì)量要求；外觀質(zhì)量不嚴(yán)重時(shí)，只對砌筑進(jìn)度、 墻體材料表面（觀）質(zhì)量有影響，墻體材料外觀質(zhì)量嚴(yán)重超標(biāo)時(shí)，同樣會(huì)增加建筑墻體材料施工，如壘面、抹灰方面的工程成本。重則同樣會(huì)對結(jié)構(gòu)產(chǎn)生大量的不均勻砌筑，影響結(jié)構(gòu)承載及大幅度降低建筑物抗震性能。而欠火、酥啞、雨淋 墻體材料制品如果達(dá)不到標(biāo)準(zhǔn)要求，將對砌筑墻體材料產(chǎn)生的后果則更為嚴(yán)重，輕則幾年內(nèi)墻體風(fēng)化損毀，重則會(huì)造成建筑坍塌的嚴(yán)重惡性事故。因此，國家標(biāo)準(zhǔn)對上述指標(biāo)都做出了嚴(yán)格規(guī)定。
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| 產(chǎn)品圖片 | 產(chǎn)品名稱/型號(hào) | 產(chǎn)品簡介 |
 | DZE-20/50 磚瓦抗折試驗(yàn)機(jī) | |
 | CIT-3000F 低本底多道γ能譜儀 | |
 | ZSX-51/52 磚瓦爆裂蒸煮箱 | |
 | ZFX—51 自控磚瓦泛霜箱 | |
 | ZK-1 | |
 | SP-256 磚立式收縮膨脹儀 | |
 | TH-W 磚碳化試驗(yàn)箱 | |
 | QZ-60 切磚機(jī) | |
 | QZ 切磚器 | |
 | ZDR 磚凍溶試驗(yàn)箱 | |
 | DJ-58 紅磚多功能夾具 | |
 | ZC4型 測磚回彈儀 | |