功能：
◆平面面形精度测量；
◆棱镜直角偏差测量；
◆激光棒透射波前畸变测量；
◆小晶体透射及面型测量，试样zui小可测1-2mm。
特点：
适用于工厂、研究所和高校等对光学元件的高精度检测。
采用光、机、电、算结合的系统软件，可打印检测报告。
技术指标
| 测量方式 | 泰曼干涉原理 |
| 口径 | 80mm |
| 倍率 | 1-5倍 |
| 激光源 | He-Ne激光器（λ=632.8nm） |
| 分辨率 | 795H*596V |
| 仪器重复性 | λ/40 |
| 平面测试精度 | P-V λ/20，RMS λ/100 |
| 显示 | 9寸监视器 |
| 电源 | AC 220V 50HZ |
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