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| 產(chǎn)地類別 | 國(guó)產(chǎn) | 價(jià)格區(qū)間 | 面議 |
|---|---|---|---|
| 儀器種類 | 其他 | 應(yīng)用領(lǐng)域 | 化工,石油,建材/家具,航空航天,電氣 |
主要用途有:
1利用R100mm曲面測(cè)定斜探頭的 入射點(diǎn)和前沿長(zhǎng)度;
2利用50和1.5mm圓孔測(cè)定 斜探頭的折射角;
3利用試塊直角棱邊測(cè)定斜探頭 聲束軸線的偏離情況;
產(chǎn)品簡(jiǎn)介
詳細(xì)介紹
CSK-IA超聲波探傷儀標(biāo)準(zhǔn)試塊
CSK-IA試塊是由IIW試塊的基礎(chǔ)上改進(jìn)而來(lái)的
主要用途有:
1利用R100mm曲面測(cè)定斜探頭的 入射點(diǎn)和前沿長(zhǎng)度;
2利用50和1.5mm圓孔測(cè)定 斜探頭的折射角;
3利用試塊直角棱邊測(cè)定斜探頭 聲束軸線的偏離情況;
4利用25mm厚度測(cè)定探傷 儀水平線性、垂直線性和動(dòng)態(tài)范圍;
5利用25mm 厚度調(diào)整縱波探測(cè)范圍和掃描速度;
6利用R50和 R100mm曲面調(diào)節(jié)橫波探測(cè)范圍和掃描速度;
7利 用50、44和40mm 三個(gè)臺(tái)階孔測(cè)定斜探頭分辨力。
CSK-IA超聲波探傷儀標(biāo)準(zhǔn)試塊
CSK-IA試塊是由IIW試塊的基礎(chǔ)上改進(jìn)而來(lái)的
主要用途有:
1利用R100mm曲面測(cè)定斜探頭的 入射點(diǎn)和前沿長(zhǎng)度;
2利用50和1.5mm圓孔測(cè)定 斜探頭的折射角;
3利用試塊直角棱邊測(cè)定斜探頭 聲束軸線的偏離情況;
4利用25mm厚度測(cè)定探傷 儀水平線性、垂直線性和動(dòng)態(tài)范圍;
5利用25mm 厚度調(diào)整縱波探測(cè)范圍和掃描速度;
6利用R50和 R100mm曲面調(diào)節(jié)橫波探測(cè)范圍和掃描速度;
7利 用50、44和40mm 三個(gè)臺(tái)階孔測(cè)定斜探頭分辨力。
1利用R100mm曲面測(cè)定斜探頭的 入射點(diǎn)和前沿長(zhǎng)度;
2利用50和1.5mm圓孔測(cè)定 斜探頭的折射角;
3利用試塊直角棱邊測(cè)定斜探頭 聲束軸線的偏離情況;
4利用25mm厚度測(cè)定探傷 儀水平線性、垂直線性和動(dòng)態(tài)范圍;
5利用25mm 厚度調(diào)整縱波探測(cè)范圍和掃描速度;
6利用R50和 R100mm曲面調(diào)節(jié)橫波探測(cè)范圍和掃描速度;
7利 用50、44和40mm 三個(gè)臺(tái)階孔測(cè)定斜探頭分辨力。
1利用R100mm曲面測(cè)定斜探頭的 入射點(diǎn)和前沿長(zhǎng)度;
2利用50和1.5mm圓孔測(cè)定 斜探頭的折射角;
3利用試塊直角棱邊測(cè)定斜探頭 聲束軸線的偏離情況;
4利用25mm厚度測(cè)定探傷 儀水平線性、垂直線性和動(dòng)態(tài)范圍;
5利用25mm 厚度調(diào)整縱波探測(cè)范圍和掃描速度;
6利用R50和 R100mm曲面調(diào)節(jié)橫波探測(cè)范圍和掃描速度;
7利 用50、44和40mm 三個(gè)臺(tái)階孔測(cè)定斜探頭分辨力。
1利用R100mm曲面測(cè)定斜探頭的 入射點(diǎn)和前沿長(zhǎng)度;
2利用50和1.5mm圓孔測(cè)定 斜探頭的折射角;
3利用試塊直角棱邊測(cè)定斜探頭 聲束軸線的偏離情況;
4利用25mm厚度測(cè)定探傷 儀水平線性、垂直線性和動(dòng)態(tài)范圍;
5利用25mm 厚度調(diào)整縱波探測(cè)范圍和掃描速度;
6利用R50和 R100mm曲面調(diào)節(jié)橫波探測(cè)范圍和掃描速度;
7利 用50、44和40mm 三個(gè)臺(tái)階孔測(cè)定斜探頭分辨力。