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CSK-IB試塊 GS-1、2、3、4試塊承壓設(shè)備無(wú)損檢測(cè)標(biāo)準(zhǔn)試塊 承壓設(shè)備無(wú)損檢測(cè)標(biāo)準(zhǔn)試塊 CSK-IA 試塊 CSK-IA超聲波標(biāo)準(zhǔn)試塊 CSK-IA超聲波試塊 溝槽射線探傷對(duì)比試塊 ASME非管徑焊縫試塊 NB/T47013-2015標(biāo)準(zhǔn)超聲波試塊 鐵道部標(biāo)準(zhǔn)試塊 石油天然氣管道專(zhuān)用試塊 建筑行業(yè)標(biāo)準(zhǔn)試塊 電力行業(yè)標(biāo)準(zhǔn)試塊 其它國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)試塊 NDT培訓(xùn)考試試塊 超聲波探傷試塊
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紫外線燈75 不銹鋼鍍鉻條紋試塊 新美達(dá)清洗劑 紅色磁粉油磁懸液 顯像劑滲透劑清洗劑 反差增強(qiáng)抄數(shù)掃描劑 宏達(dá)牌反差增強(qiáng)劑 增強(qiáng)顯示劑磁粉探傷 新美達(dá)MT-BW黑水磁懸液 宏達(dá)牌干法黑磁粉、干法紅磁粉 熒光探傷磁粉磁懸 水基紅色磁懸液 宏達(dá)牌熒光磁粉（紅磁粉/黑磁粉） 新美達(dá)MT-BO黑油磁懸液 上海新美達(dá)/誠(chéng)友集團(tuán)反差增強(qiáng)劑 磁粉探傷用消泡劑 無(wú)錫捷成 磁場(chǎng)強(qiáng)度計(jì) 北京師范大學(xué) 屏幕亮度計(jì) 北師大紫外輻照計(jì) 宏達(dá)干法黑磁粉 宏達(dá)牌 熒光磁懸液 宏達(dá)牌反差增強(qiáng)劑 宏達(dá)牌濕法探傷磁粉膏 宏達(dá)牌著色滲透探傷劑 新美達(dá) DPT-5 著色滲透探傷劑 RJUV-90紫外線探傷燈 RJUV-40紫外線探傷燈 熒光磁粉探傷 顯影粉定影粉 DPT-5著色探傷機(jī)滲透探傷劑顯像劑 著色滲透探傷劑 A型靈敏度試片 FC-5反差增強(qiáng)劑 宏達(dá)黑油磁懸液 磁場(chǎng)指示器八角試塊 儒佳 RJ-LED86觀片燈與黑白密度計(jì)一體 儒佳RJH-130高精密超聲波測(cè)厚儀 磁粉探傷|干磁粉噴散器
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渾身是寶的CSK-IA超聲波試塊
CSK-IA試塊是超聲波檢測(cè)較常用的試塊之一，標(biāo)準(zhǔn)中對(duì)于試塊的定義分為標(biāo)準(zhǔn)試塊、對(duì)比試塊，其中CSK-IA試塊穩(wěn)居標(biāo)準(zhǔn)試塊行列已有15年之久，可見(jiàn)CSK-IA試塊不可撼動(dòng)的位置，本文針對(duì)CSK-IA試塊的各部分功能進(jìn)行描述，可對(duì)照下圖，查看序號(hào)位置所對(duì)應(yīng)的功能。
（1）采用R=50mm，R=100mm弧，可用于測(cè)定聲速、探頭的入射點(diǎn)（前沿、探頭延遲），如果只采用單?。?0mm或100mm）可測(cè)定探頭的入射點(diǎn)，聲速可以手動(dòng)輸入，橫波聲速為3230m/s。建議可采用單弧測(cè)試，測(cè)定聲速為CSK-IA試塊的聲速，對(duì)于檢測(cè)定位意義不大。
（2）可采用三個(gè)不同深度的臺(tái)階底面（85mm、91mm、100mm）用于測(cè)定直探頭的分辨力，此處測(cè)試結(jié)果可做參考，NB/T 47013要求測(cè)試方法參考JB/T 9214。
(3) 可采用40mm、44mm、50mm三個(gè)階梯孔測(cè)定斜探頭的分辨力，此處測(cè)試結(jié)果可做參考，NB/T 47013要求測(cè)試方法參考JB/T 9214。另外可采用50mm圓孔測(cè)試斜探頭K值，此處需要注意不同標(biāo)稱K值的探頭測(cè)試位置有所不同，K2、K2.5、K3探頭布置在上表面，K1、K1.5探頭布置在下表面。采用50mm圓孔還可測(cè)試直探頭的盲區(qū)，探頭位置分別布置在試塊上表面及側(cè)面，此處測(cè)試結(jié)果也作為參考，具體方法應(yīng)參照J(rèn)B/T 9214。
（4）φ1.5mm橫孔可用于測(cè)試斜探頭K值。
（5）將CSK-IA試塊平置，可用25mm大平底，測(cè)試水平線性、垂直線性，垂直線性測(cè)試結(jié)果可作參考，具體方法參照J(rèn)B/T 9214。另外可用25mm大平底校準(zhǔn)直探頭，調(diào)節(jié)掃描基線。