目錄:先鋒科技（香港）股份有限公司>>激光與量測>>激光光譜儀>> L100（500）A-PF-120超快時(shí)間分辨光譜測試系統(tǒng)
| 產(chǎn)地類別 | 國產(chǎn) | 價(jià)格區(qū)間 | 面議 |
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| 應(yīng)用領(lǐng)域 | 電子/電池,綜合 | 組成要素 | 自由電子激光器 |
系統(tǒng)主要功能指標(biāo)：
寬光譜測量范圍：UV-VIS-NIR, 200-900nm;
高系統(tǒng)時(shí)間分辨率： <=5ps
壽命衰減測量時(shí)間范圍：<=50ps—100us
高系統(tǒng)光譜分辨率： <0.1nm
寬單次成譜范圍： >=200nm
靜態(tài)（穩(wěn)態(tài)）光譜采集，
瞬態(tài)時(shí)間分辨光譜圖像及熒光壽命曲線
系統(tǒng)集成整體控制及數(shù)據(jù)處理軟件
超快時(shí)間分辨光譜系統(tǒng) 是由光譜儀、超快探測器、耦合光路、系統(tǒng)控制及數(shù)據(jù)處理軟件組成。光譜儀對入射光信號進(jìn)行分光，分光光譜耦合到超快探測器,入射光由透鏡聚焦在陰極上，激發(fā)出的光電子通過陽極加速，入射到偏轉(zhuǎn)場中的電極間，此時(shí)電壓加在偏轉(zhuǎn)電極上，光電子被電場偏轉(zhuǎn)，激射熒光屏，以光信號的形式成像在熒光屏上。轉(zhuǎn)換后的光信號還可以再通過圖像增強(qiáng)器進(jìn)行能量放大，并在圖像增強(qiáng)器的熒光屏上成像。最后通過制冷相機(jī)采集熒光屏上信號。因?yàn)殡娮拥钠D(zhuǎn)與其承受的偏轉(zhuǎn)電場成正比，因此，通過電極的時(shí)間差就可以作為熒光屏上條紋成像的位置差被記錄下來，也就是將入射光的時(shí)間軸轉(zhuǎn)換成了熒光屏空間軸。系統(tǒng)控制軟件用于整個(gè)系統(tǒng)的參數(shù)設(shè)置、功能切換、數(shù)據(jù)采集等，圖像工作站用于采集數(shù)據(jù)處理分析
主要應(yīng)用方向
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光譜儀建議選型參數(shù)列表
光譜儀型號 | Omni-λ2002i | Omni-λ3004i | Omni-λ5004i | Omni-λ7504i | |||
光譜儀焦距 | 200mm | 320mm | 500mm | 750mm | |||
相對孔徑 | F/3.5 | F/4.2 | F/6.5 | F/9.7 | |||
光譜分辨率（1200l/mm） | 0.3nm | 0.1nm | 0.08nm | 0.05nm | |||
波長準(zhǔn)確度 | +/-0.2nm | +/-0.2nm | +/-0.15nm | +/-0.1nm | |||
倒線色散(1200l/mm) | 3.6nm/mm | 2.3nm/mm | 1.7nm/mm | 1.1nm/mm | |||
光柵尺寸 | 50*50mm | 68*68mm | 68*68mm | 68*68mm | |||
光柵臺(tái) | 雙光柵 | 三光柵 | 三光柵 | 三光柵 | |||
與探測器耦合 | 中繼光路1:1耦合，配合二維焦面精密調(diào)節(jié)一體化底板 | ||||||
系統(tǒng)光譜分辨率(1200l/mm) | <=0.3nm | <=0.2nm | <=0.1nm | <0.08nm | |||
一次攝譜范圍(150 l/mm) | >230nm | >150nm | >90nm | >60nm | |||
光譜儀入口選項(xiàng) | 光纖及光纖接口，標(biāo)準(zhǔn)熒光樣品室，鏡頭收集耦合，共聚焦顯微收集耦合等 | ||||||
超快時(shí)間分辨光譜測試系統(tǒng)既可以與飛秒超快光源配合完成獨(dú)立的光譜測試，也可以與卓立漢光的其他系統(tǒng)比如 TCSPC, RTS&FLIM顯微熒光壽命成像系統(tǒng),TAM900寬場瞬態(tài)吸收成像系統(tǒng)，以及低溫制冷室，飛秒&皮秒激光器等配合完成更為復(fù)雜全面的超快測試。
Zolix其他可配合超快測量系統(tǒng)
lRTS2& FLIM 顯微熒光壽命成像系統(tǒng)
光譜掃描范圍：200-900nm(可拓展)
最小時(shí)間分辨率：16ps
熒光壽命測量范圍：500ps-1μs@ 皮秒脈沖激光器
激發(fā)源： 375nm- 670nm 皮秒脈沖激光器可選，或使用飛秒光源
科研級正置顯微鏡及電動(dòng)位移臺(tái)
空間分辨率：≤1μm@100X 物鏡@405nm 皮秒脈沖激光器
OmniFluo-FM 熒光壽命成像專用軟件
Omni-TAM900 寬場飛秒瞬態(tài)吸收成像系統(tǒng)
測量模式：
1：點(diǎn)泵浦-寬場探測：測量載流子遷移和熱導(dǎo)率等；
2：寬場泵浦-寬場探測：測量載流子分布和物理態(tài)的空間異質(zhì)性等。
探測器：sCMOS相機(jī)
成像空間分辨率：優(yōu)于500nm
載流子遷移定位精度 優(yōu)于30nm
時(shí)間延時(shí)范圍：0-4ns或0-8ns可選
搭配倒置顯微鏡，可兼容低溫，探針臺(tái)，電學(xué)調(diào)控等模塊
<20ps 的鈣鈦礦薄膜ASE 發(fā)光壽命曲線
(空格分隔,最多3個(gè),單個(gè)標(biāo)簽最多10個(gè)字符)
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