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X射線熒光光譜儀的六大優(yōu)點你知道嗎？
X射線熒光光譜儀的應用范圍不斷拓展，已成為一種廣泛應用于冶金、地質、有色、建材、商檢、環(huán)保、衛(wèi)生等各個領域的檢測設備，大多數分析元素均可用其進行分析，可分析固體、粉末、熔珠、液體等樣品，X射線熒光光譜儀 具有分析速度快、測量范圍寬、干擾小的特點。
在測定微量成分時，由于X射線管的連續(xù)X射線所產生的散射線會產生較大的背景，致使目標峰的觀測比較困難。為了降低或消除背景和特征譜線等的散射X射線對高靈敏度分析的影響，此熒光分析儀配置了4種可自動切換的濾光片，有效地降低了背景和散射X射線的干擾，調整出醉具感度的輻射，進一步提高了S/N的比值，從而可以進行更高靈敏度的微量分析。
X射線管的連續(xù)X射線所產生的散射線會產生較大的背景，軟件可自動過濾背景對分析結果的干擾，從而能確保對任何塑料樣品的進行快速準確的分析。當某些元素的電子由高等級向低等級越遷時釋放的能量相近，會使此時譜圖的波峰重疊在一起，由此產生了重疊峰。SCIENSCOPE自行開發(fā)的軟件自動剝離重疊峰，確保了元素分析的正確性。
X射線熒光光譜儀的優(yōu)點：
1、分析速度快。測定用時與測定精密度有關，但一般都很短，10～300秒就可以測完樣品中的全部待測元素。
2、X射線熒光光譜跟樣品的化學結合狀態(tài)無關，而且跟固體、粉末、液體及晶質、非晶質等物質的狀態(tài)也基本上沒有關系。（氣體密封在容器內也可分析）但是在高分辨率的精密測定中卻可看到有波長變化等現象。特別是在超軟X射線范圍內，這種效應更為顯著。波長變化用于化學位的測定。
3、非破壞分析。在測定中不會引起化學狀態(tài)的改變，也不會出現試樣飛散現象。同一試樣可反復多次測量，結果重現性好。
4、X射線熒光分析是一種物理分析方法，所以對在化學性質上屬同一族的元素也能進行分析。
5、分析精密度高。目前含量測定已經達到ppm級別。
6、X射線熒光光譜儀制樣簡單，固體、粉末、液體樣品等都可以進行分析。