HD-溫度沖擊試驗和溫度循環(huán)試驗之比較
各種試驗目的及環(huán)境條件：
| 目的 | 加速應力試驗 | 加速壽命試驗 | 環(huán)境應力篩選試驗（ESS） |
| 試驗標準 | MIL-STD-202 Method 107 | IEC60749-25 | IEC |
| 試驗方法 | 溫度沖擊試驗 | 溫度循環(huán)試驗 | 溫度循環(huán)試驗 |
| 試驗環(huán)境 | 比使用環(huán)境更嚴酷 | 極限使用環(huán)境 | 極限使用環(huán)境 |
| 試樣 | 零部件 | 元器件，焊點（BGA，CSP） | 成品 |
| 試樣尺寸 | 小 | 小 | 比較大 |
| 試驗溫度范圍 | -40（-55）～125（150）℃ | -40（-65）～125（150）℃ | -40（-0）～100℃ |
| 溫度變化率 | 1槽法：大于30℃/分鐘 （空氣） | 1槽法：小于15℃/分鐘 （試樣） | 1槽法：小于20℃/分鐘 （空氣） |
| 加速系數(shù) | 100～500倍 | 比加速試驗加速系數(shù)小 | 10～20倍 |
| 試驗結果 | 設計信息 | 設計信息 | 生產(chǎn)品質差異驗證 |
溫度沖擊試驗：
升溫/降溫速率不低于30℃/分鐘。溫度變化范圍很大，同時試驗嚴酷度還隨著溫度變化率的增加而增加。
溫度沖擊試驗與溫度循環(huán)試驗的差異主要是應力負荷機理不同。溫度沖擊試驗主要考察由于蠕變及疲勞損傷引起的失效，而溫度循環(huán)主要考察由于剪切疲勞引起的失效。
溫度沖擊試驗容許使用二槽式試驗裝置；溫度循環(huán)試驗使用單槽式試驗裝置。在二槽式箱體內(nèi)，溫度變化率要大于50℃/分鐘。
※引起溫度沖擊的原因：回流焊，干燥，再加工，修理等制造、修理工藝中劇烈的溫度變化。
※加速應力試驗：加速試驗是使用比在實際環(huán)境中更短的時間，對試驗樣品進行的加速試驗，以考察其失效機理。試驗的加速就是采用加大應力的方法促使試驗樣品在短期內(nèi)失效，。但是必須注意避免其它應力原因引起的失效機理。
溫度循環(huán)試驗：
溫度循環(huán)就是將試驗樣品曝露于予設的高低溫交替的試驗環(huán)境中。為避開溫度沖擊影響，試驗時的溫度變化率必須小于20℃/分鐘。同時，為達到蠕變及疲勞損傷的效果，推薦試驗溫度循環(huán)為25℃～100℃，或者也可根據(jù)產(chǎn)品的用途使用0℃～100℃的循環(huán)試驗，曝露時間為各1 5分鐘。
環(huán)境應力篩選試驗
對產(chǎn)品施加環(huán)境應力促使早期失效產(chǎn)品存在的潛在缺陷盡快暴露而予以剔除。
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