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產(chǎn)品簡介
詳細介紹
| 簡介 | 概述 BY.79-51型數(shù)字式四探針測試儀是運用四探針測量原理的多用途綜合測量裝置，它可以測量片狀、塊狀半導體材料的電阻率，擴散層的薄層電阻（亦稱方塊電阻）。也可測柔性導電薄膜和玻璃等硬基底上導電膜的方塊電阻（簡稱方阻），換上四端子測試夾具，還可對電阻器體電阻、金屬導體的低、中值電阻以及開關(guān)類接觸電阻進行測量。 本測試儀可贈設(shè)電池供電，適合手持式變動場合操作！ 儀器所有參數(shù)設(shè)定、功能轉(zhuǎn)換全部采用一旋鈕輸入；具有零位、滿度自校功能；自動轉(zhuǎn)換量程；測試探頭采用高耐磨碳化鎢探針制成，故定位準確、游移率小、壽命長；測試結(jié)果由數(shù)字表頭直接顯示。 基本技術(shù)參數(shù) 1. 測量范圍、分辨率 電 阻： 1.0×10-2 ～ 2000 Ω, 分辨率0.1×10-3 ～ 0.1×10 Ω 電 阻 率： 1.0×10-3～ 2000 Ω-cm 分辨率0.1×10-2 ～ 0.1 Ω-cm 方塊電阻： 1.0×10-3 ～ 2000Ω/□ 分辨率1.0×10-1 ～ 0.1×10 Ω/□ 2. 可測半導體材料尺寸（手持式） 直 徑： 測試臺直接測試方式 Φ15～130mm，其他方式不限. 長（或高）度： 測試臺直接測試方式 H≤160mm, 其他方式不限. 3. 量程劃分及誤差等級
4） 適配器工作電源：220V±10％, f=50Hz±4％,PW≤5W，或電池供電 5） 外形尺寸：W×H×L=18cm×7.5cm×13cm 凈 重：≤0.5kg | |||||||||||||||||||