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| 单晶少子寿命测试仪 | |||
| 简介 | 特点: *.用于测量硅单晶的非平衡少数载流子寿命。 本仪器根据通用方法高频光电导衰退法 的原理设计，由稳压电源、高频源、检波放 大器，特制的InGaAsp／InP红外光源及样品 台共五部份组成； | ||