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产品简介
LY.4-ST-20掌上型方块电阻测试仪是一种依照类似的国家标准和美国A.S.T.M标准，专门测量半导体薄层电阻（面电阻）的新型仪器，可用于测量一般半导体材料、导电薄膜（ITO透明氧化膜），金属薄膜……等同类物质的薄层电阻。
详细介绍
| 掌上型方块电阻测试仪 | ||||||||||||||||||||||
| 简介 |
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| ◆ 技术指标： | ||||||||||||||||||||||
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