聚合物薄膜厚度方向热电性能评价系统-ZEM-d

    日本ADVANCE RIKO公司塞贝克系数与电阻测量系统ZEM系列在销售量超过300台，广获科研及工业用户的赞誉，成为热电材料域“*型”测试设备。2019年，在此前的成功基础上，ADVANCE RIKO公司推出了门用于评价聚合物厚度方向上热电性能的全新设备ZEM-d。

    与之前ZEM系列产品（ZEM-3/ZEM-5）不同，新型号ZEM-d主要测量聚合物薄膜厚度方向上的塞贝克系数和电阻率，可以测量的样品薄为10μm。此外，ZEM-d与采用激光闪光法测量薄膜的热扩散率/导热系数测量方向致，其测量结果可广泛应用于薄膜热电材料的性能评价。

ZEM-d测量原理

电阻率测量原理

塞贝克系数测量原理

ZEM-d技术参数

测量参数        塞贝克系数，电阻率

温度范围        可达200℃（样品表面）

样品尺寸        截面：Φ20mm（Max），长度：0.01-20mm

测量氛围        空气或惰性气体

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