對于研究磁學的科研工作者來說，市場上有不少測量靜態(tài)磁學的儀器設備：的有Quantum Design公司的MPMS3（SQUID）以及功能更為豐富的PPMS系統(tǒng)；中等的有各種振動樣品磁強計（VSM）；低端些的有磁滯回線測試儀。另外還有些輔助的磁學測量手段，例如磁光克爾效應測量，磁扭矩測量，磁彈性測量等，可以說靜態(tài)磁學測量系統(tǒng)的手段是非常豐富的。然而靜態(tài)磁學測量手段反映的只是宏觀統(tǒng)計的測量結果，無法反映微觀磁相互作用的結果。比較為大家所熟知的動態(tài)磁學測量手段就是鐵磁共振測量。但是鐵磁共振測量涉及到高頻信號傳輸和復雜的數(shù)據(jù)分析，通常需要用昂貴的矢量網絡分析儀來搭建，對于大多數(shù)科研工作者來說是非常困難的任務，而且信噪比難以達到較高的水平。

    瑞典NanOSC公司的phase-FMR鐵磁共振測量系統(tǒng)，采用了兩種殊技術，在大提高測量信噪比的同時，對測量人員的技術要求也大為降低。

    ，phase-FMR采用了亥姆霍茲線圈加鎖相放大器技術，使得交流信號測量的精度得到大提升，下圖是系統(tǒng)的測量原理圖。

    其次，phase-FMR使用了更加容易操作的CPW共面波導板作為高頻信號的傳輸部件。使得測量頻率范圍更寬，也不再象諧振腔那樣，限于幾個殊的頻率點?？梢栽?-40GHz范圍內的任何頻率下進行測量。

    通過鐵磁共振測量，獲得不同頻率下的共振線寬，就可也擬合出樣品的相關動態(tài)磁學參數(shù)，主要有：有效磁矩: Meff，旋磁比: γ，阻尼系數(shù): α，非均勻展寬: ΔHo。同時也可以獲得飽和磁化強度Ms的信息。

測量實例：

1、1.5納米CFO薄膜的鐵磁共振原始測量曲線及測量軟件自帶的數(shù)據(jù)分析曲線。即使使用高精度的MPMS系統(tǒng)，1.5納米的薄膜測量起來已經比較困難了。Phase-FMR依然能獲得較好的測量曲線。

2、退火對樣品的磁學性能的影響

3、磁性薄膜的PSSW和FMR效應