您好, 歡迎來到化工儀器網(wǎng)！ 登錄| 免費注冊| 產(chǎn)品展廳| 收藏商鋪|
您好, 歡迎來到化工儀器網(wǎng)！ 登錄| 免費注冊| 產(chǎn)品展廳| 收藏商鋪|
18939769079
當前位置：上海島韓實業(yè)有限公司>>公司動態(tài)>>測量技術的發(fā)展趨勢
測量技術與儀器涉及所有物理量的測量（德國索特測量儀器），對于材料、工程科學、能源科學關系密切。目前的發(fā)展趨勢有以下幾點：
*，以自然基準溯源和傳遞，同時在不同量程實現(xiàn)比對。如果自己沒有能力比對就要依靠其它國家。
第二點，是高精度。目前半導體工藝的典型線寬為0.25μm，并正向0.18μm過渡，2009年的預測線寬是0.07μm。如果定位要求占線寬的1/3，那么就要求10nm量級的精度，而且晶片尺寸還在增大，達到300mm。這就意味著測量定位系統(tǒng)的精度要優(yōu)于3×10的-8次方，相應的激光穩(wěn)頻精度應該是10的-9次方數(shù)量級。
第三是高速度。目前加工機械的速度已經(jīng)提高到1m/sec以上，（德國科恩天平）上世紀80年代以前開發(fā)研制的儀器已不適應市場的需求。例如惠普公司的干涉儀市場大部分被英國Renishaw所占領，其原因是后者的速度達到了1m/sec。
第四，高靈敏，高分辨，小型化。如將光譜儀集成到一塊電路板上。
第五，標準化。通訊接口過去常用GPIB，RS232，（索特測厚儀）目前有可能成為替代物的高性能標準是USB、IEEE1394和VXI?，F(xiàn)在，技術者設法控制技術標準，參與標準制訂是儀器開發(fā)的基礎研究工作之一。
請輸入賬號
請輸入密碼
請輸驗證碼
以上信息由企業(yè)自行提供，信息內(nèi)容的真實性、準確性和合法性由相關企業(yè)負責，化工儀器網(wǎng)對此不承擔任何保證責任。
溫馨提示：為規(guī)避購買風險，建議您在購買產(chǎn)品前務必確認供應商資質(zhì)及產(chǎn)品質(zhì)量。
