自动元件分析仪TH2829C ,基本精度： 0.05%，频率： 20Hz ~ 5MHz；电压： 100mV ~ 2V；DC偏置0-40V，四端对自动平衡电桥；201点列表扫描；多参数图形分析（曲线）

TH2829系列自动元件分析仪应用高速处理器和新的软件系统，使其拥有更高的测试速度、更全面的分析功能和友好的人机交互体验。精心设计的测量电路和优化的算法，进一步提升了低D值电容和高Q值电感的测试稳定性。仪器提供的10V交流测试电平、10V/100mA偏置电源和独立的10V/50mA DC电源，使本仪器可更方便地应用于各种无源/有源器件的测试。双主副参数显示、增强的显示系统设计、多达150点的列表扫描、多种参数的图形分析能力，使仪器能满足用户多的应用需求。得益于新一代处理器的应用，使仪器具有了更强大的数据处理能力，可将测试结果方便地存储于U盘或通过多种接口上传至上位PC或网络，推进测试自动化，提高测试效率。本机测试频率为：20Hz-1MHz。具有0.05%的测试准确度、9ms/次的高测试速度。仪器配有HANDLER、USB、LAN、RS232C 、DCI、GPIB（选配）等丰富的接口，无不彰显丰富的资源，将带给客户较好的性价比体验。TH2829系列元件分析仪可*适用于各种工业和军用标准的测试要求。

 自动元件分析仪TH2829C

• 应用

• ■无源元件

   电容器、电感器、磁芯、电阻器、压电器件、变压器、芯片组件和网络元件等的阻抗参数评估和性能分析

  ■半导体元件

   LED驱动集成电路寄生参数测试分析；变容二极管的C-VDC特性；晶体管或集成电路的寄生参数分析

  ■其它元件

   印制电路板、继电器、开关、电缆、电池等的阻抗评估

   

  ■介质材料

   塑料、陶瓷和其它材料的介电常数和损耗角评估

  ■磁性材料

   铁氧体、非晶体和其它磁性材料的导磁率和损耗角评估

  ■半导体材料

   半导体材料的介电常数、导电率和C-V特性

  ■液晶单元

   介电常数、弹性常数等C-V特性

■ LCR自动平衡测试理论是美国HP公司一九八几年提出来的，这是全*好测试方法。自动平衡保证全频段测试的精度：

■ 普通电桥是使用运放采样信号，运放缺点输入端有偏置电流，流过被测件跟流过采样电阻的电流不一致，电流的误差是取消不了的，清零是没用的。

■ 自动平衡不采用运放， 而采用FPGA加高速ADC采样，另外做了一个信号源同时加在被测件上，来抵消普通LCR这种误差,用这种方法能保证更高的测试精度跟测试范围。

■ 目前市面上只有同惠的LCR采用自动平衡测试原理。