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•通用的探針臺

•適合未封裝的集成電路、晶片和大型電路板

•-40C至125C可配置

•集成隔振平臺

•定制-例如：雙面探測和磁場

2210-LS型通用探針臺（應(yīng)用、系統(tǒng)、開發(fā)等）兼容專門用于將晶圓級探針能力遷移到測試板級，以協(xié)助進(jìn)行后續(xù)的產(chǎn)品測試

2210-LS使您能夠在高于和低于環(huán)境溫度的情況下探測安裝在測試板上的未封裝集成電路，且不限制電路板使用芯片的能力，也不限制在晶圓級使用的探測能力。使用2210-LS，可以跟蹤和分析僅在實際的終應(yīng)用程序環(huán)境中出現(xiàn)的問題，比以前更快、更容易

使用2210-LS，您可以探測：

•在環(huán)境模式下測量高達(dá)24〃正方形，在溫度模式下測量高達(dá)18〃。

•300毫米以下的晶圓。

•晶圓片和形狀/尺寸奇怪的試樣

•支持的溫度范圍：-40C至125C

每個2210配有：             

•集成隔振底座平臺。             

•可升級溫度選項。選擇-40C到125C，或環(huán)境溫度。

•可選擇的顯微鏡系統(tǒng)。

•大平移手動顯微鏡運(yùn)動，JIN確精細(xì)運(yùn)動。

•兩個獨立的可移動平臺。