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岱美儀器技術(shù)服務(wù)（上海）有限公司

PRODUCT DISPLAY

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  • Thetametrisis膜厚測量儀 參考價： 面議

    參考價： 面議 型號：FR-pRo
    Thetametrisis膜厚測量儀FR-pRo是一個模塊化和可擴展平臺的光學測量設(shè)備，用于表征厚度范圍為1nm-1mm 的涂層。
    型號： FR-pRo 品牌：ThetaMetrisis所在地：上海市 對比
    膜厚儀膜厚測量儀測膜儀薄膜厚度測量儀光學薄膜厚度測量儀
    2025/4/8 17:41:2942052

  • FR-Scanner：自動化高速薄膜厚度測量儀 參考價： 面議

    參考價： 面議 型號：
    光學厚度測量儀的光學模塊可容納所有光學部件：分光計、復合光源(壽命10000小時)、高精度反射探頭。因此，在準確性、重現(xiàn)性和長期穩(wěn)定性方面保證了優(yōu)異的性能。
    型號： 品牌：ThetaMetrisis所在地：上海市 對比
    顯示器薄膜測量自動高速薄膜厚度測量薄膜厚度測量儀
    2024/11/9 15:24:542332

  • FR-pRo：Thetametrisis膜厚測量儀 參考價： 面議

    參考價： 面議 型號：
    Thetametrisis膜厚測量儀FR-pRo是一個模塊化和可擴展平臺的光學測量設(shè)備，用于表征厚度范圍為1nm-1mm 的涂層。
    型號： 品牌：ThetaMetrisis所在地：上海市 對比
    膜厚儀膜厚測量儀測膜儀薄膜厚度測量儀光學薄膜厚度測量儀
    2025/4/8 14:50:262593

  • 自動化高速薄膜厚度測量儀 參考價： 面議

    參考價： 面議 型號：FR-Scanner
    薄膜厚度測量的光學模塊可容納所有光學部件：分光計、復合光源(壽命10000小時)、高精度反射探頭。因此，在準確性、重現(xiàn)性和長期穩(wěn)定性方面保證了優(yōu)異的性能。
    型號： FR-Scanne... 品牌：ThetaMetrisis所在地：上海市 對比
    顯示器薄膜測量自動高速薄膜厚度測量薄膜厚度測量儀
    2024/11/26 17:09:4813240

  • 全自動帶顯微鏡多點測量 參考價： 面議

    參考價： 面議 型號：FR-Mic
    FR-Mic 多層膜厚度測試儀是一款快速、準確測量薄膜表征應(yīng)用的模塊化解決方案，可以將光斑縮小到幾個微米，進而分析微小區(qū)域或者粗糙表面薄膜特征。
    型號： FR-Mic 品牌：ThetaMetrisis所在地：東莞市 對比
    多層膜厚度測試Thetametrisis膜厚儀FR-Mic um級薄膜表征全自動顯微鏡多點測量
    2024/11/9 14:10:076429

  • 全自動帶顯微鏡多點測量膜厚儀 參考價： 面議

    參考價： 面議 型號：FR-Mic
    硬化涂層膜厚儀是一款快 速、準確測量薄膜表征應(yīng)用的模塊化解決方案，要求的光斑尺寸小到幾個微米，如微圖案表面，粗糙表面及許多其他表面。
    型號： FR-Mic 品牌：ThetaMetrisis所在地：上海市 對比
    膜厚儀測膜儀薄膜厚度分析儀薄膜厚度測量儀薄膜測量儀
    2025/3/7 9:55:5811192

  • 光學顯微鏡適配器 參考價： 面議

    參考價： 面議 型號：FR-uProbe-LC
    FR-uProbe-LC: 可測量小至幾微米的光斑尺寸應(yīng)用，例如微圖案表面、高粗糙度表面的樣品等等只需單擊鼠標即可在 Vis/NIR波長范圍中測量微小區(qū)域薄膜厚...
    型號： FR-uProbe... 品牌：ThetaMetrisis所在地：上海市 對比
    膜厚儀拓展工具測量
    2024/11/9 16:27:201578

  • FR-Scanner-AIO-Mic-XY300 參考價： 面議

    參考價： 面議 型號：
    FR-Scanner-AIO-Mic-XY300 是一款整合自動薄膜厚度測繪系統(tǒng)，用于全自動圖案化晶圓上的單層和多層涂層厚度測量。電動X-Y載物臺提供適用尺寸 ...
    型號： 品牌：ThetaMetrisis所在地：上海市 對比
    膜厚儀薄膜厚度測繪微米級
    2024/11/9 16:23:411661

  • UltraFilm薄膜測量系統(tǒng) 參考價： 面議

    參考價： 面議 型號：
    系統(tǒng)可以為各種材質(zhì)薄膜提供高精度的厚度均勻性測量。使用創(chuàng)新的融合光譜反射技術(shù)、近紅外干涉技術(shù)以及高亮度光源驅(qū)動的光譜橢偏儀技術(shù)的多傳感器融合測量技術(shù)，是國內(nèi)可以...
    型號： 品牌：其他品牌所在地：上海市 對比
    薄膜測量同質(zhì)膜厚全自動檢測
    2024/11/26 17:16:592465

  • QuickOCT-4D--膜厚輪廓儀 參考價： 面議

    參考價： 面議 型號：
    QuickOCT-4D™ 將單點可見光光譜域光學相干斷層掃描 （SD-OCT） 傳感器與高速納米編碼的 X/Y/Z 運動控制平臺相結(jié)合，可以在高達 ...
    型號： 品牌：其他品牌所在地：上海市 對比
    光學相干斷層掃描OATI
    2024/11/9 15:44:273091

  • FR-Mic：全自動帶顯微鏡多點測量膜厚儀 參考價： 面議

    參考價： 面議 型號：
    硬化涂層膜厚儀是一款快速、準確測量薄膜表征應(yīng)用的模塊化解決方案，要求的光斑尺寸小到幾個微米，如微圖案表面，粗糙表面及許多其他表面。
    型號： 品牌：ThetaMetrisis所在地：上海市 對比
    膜厚儀測膜儀薄膜厚度分析儀薄膜厚度測量儀薄膜測量儀
    2024/11/9 15:28:141785

  • FR-InLine-在線薄膜厚度測量儀 參考價： 面議

    參考價： 面議 型號：
    FR-InLine 是一款模塊化可擴展的在線薄膜厚度測量儀（膜厚儀），可進行在線非接觸測量 3nm-1mm 厚度范圍內(nèi)的涂層。 FR-InLine 膜厚儀并可以...
    型號： 品牌：ThetaMetrisis所在地：上海市 對比
    薄膜厚度測量儀膜厚儀FR-InLine岱美儀器
    2025/4/8 15:19:312277

  • -自動化高速薄膜厚度測量儀 參考價： 面議

    參考價： 面議 型號：FR-Scanner AIO-Mic-RΘ150
    顯示器薄膜測量儀*的光學模塊可容納所有光學部件：分光計、復合光源(壽命10000小時)、高精度反射探頭。因此，在準確性、重現(xiàn)性和長期穩(wěn)定性方面保證了優(yōu)異的性能。
    型號： FR-Scanne... 品牌：ThetaMetrisis所在地：上海市 對比
    顯示器薄膜測量自動高速薄膜厚度測量薄膜厚度測量儀
    2024/11/9 15:21:021126

  • 晶圓厚度測量系統(tǒng) 參考價： 面議

    參考價： 面議 型號：FR-Ultra
    FR-Ultra是一種緊湊型設(shè)備，專門用于快速、準確和無損測量半導體材料的厚/超厚層及透明層。
    型號： FR-Ultra 品牌：ThetaMetrisis所在地：上海市 對比
    薄膜厚度測量儀
    2024/11/9 15:19:311571

  • 精簡薄膜厚度測量儀 參考價： 面議

    參考價： 面議 型號：FR-ES
    FR-ES 是一款輕巧便捷膜厚測量分析系統(tǒng)。
    型號： FR-ES 品牌：ThetaMetrisis所在地：上海市 對比
    薄膜測厚儀
    2024/11/9 15:17:031668

  • FR-Ultra 晶圓厚度測量系統(tǒng) 參考價： 面議

    參考價： 面議 型號：
    FR-Ultra是一種緊湊型設(shè)備，專門用于快速、準確和無損測量半導體材料的厚/超厚層及透明層。
    型號： 品牌：ThetaMetrisis所在地：上海市 對比
    薄膜厚度測量儀
    2024/11/9 14:52:432173

  • 自動化高速薄膜厚度測量儀 參考價： 面議

    參考價： 面議 型號：FR-Scanner AIO-Mic-RΘ150
    顯示器薄膜測量儀*的光學模塊可容納所有光學部件：分光計、復合光源(壽命10000小時)、高精度反射探頭。因此，在準確性、重現(xiàn)性和長期穩(wěn)定性方面保證了優(yōu)異的性能。
    型號： FR-Scanne... 品牌：ThetaMetrisis所在地：上海市 對比
    顯示器薄膜測量自動高速薄膜厚度測量薄膜厚度測量儀
    2024/11/9 14:43:502368

  • 硅片厚度測量 參考價： 面議

    參考價： 面議 型號：Filmetrics F3-sX
    硅片厚度測量儀采用的是近紅外光(NIR)來測量膜層厚度，因此可以測試一些肉眼看是不透明的膜層( 比如半導體膜層) 。
    型號： Filmetric... 品牌：其他品牌所在地：上海市 對比
    硅片厚度測量Filmetrics F3-sX薄膜厚度測量儀薄膜厚度測量儀膜厚儀
    2025/1/16 10:05:374280

  • Filmetrics F3-sX半導體薄膜測量儀 參考價： 面議

    參考價： 面議 型號：
    Filmetrics F3-sX半導體薄膜測量儀可以測試眾多半導體及電解層的厚度，可測大厚度達3毫米。此類厚膜，相較于較薄膜層表面較粗糙且不均
    型號： 品牌：其他品牌所在地：上海市 對比
    膜厚儀膜厚測量儀測膜儀薄膜厚度測量儀光學薄膜厚度測量儀
    2024/11/26 17:22:524891

  • Filmetrics F32薄膜厚度測量儀 參考價： 面議

    參考價： 面議 型號：
    Filmetrics F32薄膜厚度測量儀 使用F32可以簡單快速地在線測量膜厚。從對膜的頂部和底部反射光譜進行分析可得到實時厚度信息。
    型號： 品牌：其他品牌所在地：上海市 對比
    膜厚儀膜厚測量儀測膜儀薄膜厚度測量儀光學薄膜厚度測量儀
    2024/11/9 13:50:163866

  • Filmetrics F60高級光譜反射系統(tǒng) 參考價： 面議

    參考價： 面議 型號：
    Filmetrics F60薄膜厚度測量儀 電動R-Theta平臺自動移動到選定的測量點，并在幾秒鐘內(nèi)提供厚度測量。 選擇數(shù)十種預(yù)定義的極坐標，矩形或線性地圖...
    型號： 品牌：其他品牌所在地：上海市 對比
    膜厚儀膜厚測量儀測膜儀薄膜厚度測量儀光學薄膜厚度測量儀
    2024/11/9 13:48:262827

  • Filmetrics F40薄膜厚度測量儀 參考價： 面議

    參考價： 面議 型號：
    Filmetrics F40薄膜厚度測量儀 產(chǎn)品能以一個電動R-Theta 平臺自動移動到選定的測量點以每秒測繪兩個點的速度快速的測繪薄膜厚度, 樣品直徑達45...
    型號： 品牌：其他品牌所在地：上海市 對比
    膜厚儀膜厚測量儀測膜儀薄膜厚度測量儀光學薄膜厚度測量儀
    2024/11/9 13:46:333184

  • Filmetrics F54薄膜厚度測量儀 參考價： 面議

    參考價： 面議 型號：
    Filmetrics F54薄膜厚度測量儀能以一個電動R-Theta 平臺自動移動到選定的測量點以每秒測繪兩個點的速度快速的測繪薄膜厚度, 樣品直徑達450毫米
    型號： 品牌：其他品牌所在地：上海市 對比
    膜厚儀膜厚測量儀測膜儀薄膜厚度測量儀光學薄膜厚度測量儀
    2024/11/26 17:19:074650

  • Filmetrics F10-RT薄膜厚度測量儀 參考價： 面議

    參考價： 面議 型號：
    Filmetrics F10-RT薄膜厚度測量儀 僅需要透過單擊滑鼠就能夠同時收集反射與透射光譜，不到一秒鐘的時間，陣列的光譜儀就可以快速的收集到資料。
    型號： 品牌：其他品牌所在地：上海市 對比
    膜厚儀膜厚測量儀測膜儀薄膜厚度測量儀光學薄膜厚度測量儀
    2024/11/9 13:43:013286
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