X荧光光谱仪采用行业的极速探测器技术——（SDD）分辨率Z低至125eV优势：探测面积大（面积达25mm2）、单位时间内接受信息多、计数率高分辨率好，探测效率更高，探测信噪比更强，检出限更低。
X荧光光谱仪性能优势
快—1秒钟出结果
采用行业的极速探测器技术——（SDD）分辨率zui低至125eV
优势：探测面积大（面积达25mm2）、单位时间内接受信息多、计数率高分辨率好，探测效率更高，探测信噪比更强，检出限更低
采用行业的数字多道技术
优势：有效提高输出效率，实现超高计数率，保证采集有效计数率zui高可达1000Wcps
采用大功率X光管及优良的准直滤光系统
优势：激发效率更高
X荧光光谱仪光闸系统
优势：样品更换无需关闭高压，提高测试效率与测试精度
精密的定位系统
超高清晰工业摄像头，更清晰的显示测试点
多点测试
2D全自动移动样品台——可实现图像联动控制，多点连续测试
超小样品检测——zui小可测到0.2毫米
8种准直器、4种滤光片快速切换功能，可根据不同样品进行选择
准直器zui小可达0.2毫米，针对超小样品可准确聚焦检测
人性化的设计
更安全：X射线联动安全装置——光闸与联动装置互动；仪器外壳与高压使能端相联动
更快捷：多点测试，点哪测哪
预约预热：根据设定时间，仪器可定时开始测试
预约开机预热功能：客户可预约仪器开机时间，同时可以仪器预热并自动检测、校正仪器状态；同时可以实现预约关机，
关机前可设定声光提示
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