深圳市方源仪器有限公司提供的铜箔膜厚仪CMI95M是一款为测试铜箔厚度设计的电池供电的手持式测厚仪，它能够在一秒钟之内测量印刷电路板上的铜箔厚度，范围从1 /8到4.0盎司/平方英尺（5-140微米）。

铜箔膜厚仪CMI95M

 

深圳市方源仪器有限公司提供的铜箔膜厚仪CMI95M是一款为测试铜箔厚度设计的电池供电的手持式测厚仪，它能够在一秒钟之内测量印刷电路板上的铜箔厚度，范围从1 /8到4.0盎司/平方英尺(5-140微米)。

 

 

 

铜箔膜厚仪CMI95M规格参数：

产品名称：铜箔膜厚仪

订货型号：CMI95M

测试范围：Oz/Ft2 1/8 1/4 3/8 1/2 1    2    3     4 

          μm 5  9 12  17 35 70 105 140

产品品牌：英国牛津仪器Oxford

电源：9伏

重量：125g

尺寸：(W)66 mm*(D)(32 mm)* (H)(104 mm)

 

铜箔膜厚仪CMI95M优势：

1、避免高昂的回收再生的成本-快速精确地鉴定特定铜箔厚度；

2、一款行业认可的坚固易用且价格合理的手持式测厚仪，通过厚度测量分拣铜箔薄片；

3、非破坏性检测一新型95M配有超软接触式探针，避免铜箔表面刮伤；

4、经久耐用，操作简单；

5、出厂前校准无需标准片；

6、低电量提醒；

7、CE认证；

 

铜箔膜厚仪CMI95M使用方法(周)：

CMI95M由工厂调校，不需要任何标准片。它使用方便，只需将产品*的软探针放到铜箔的表面就可以看到关于铜箔厚度的指示。

 

 

中国代理商：深圳市方源仪器有限公司

地址：深圳市南山区登良路62号南园综合楼5楼             地址：上海市闵行区申滨路1051弄140号1101室

：  86372601  86372660      ：  54888372  

     : fyyq@vip.163.com                  : fyyq@vip.163.com