深圳市方源仪器有限公司—英国牛津仪器中国总代理商!台式XRF射线荧光分析仪X-Strata920是一款低成本高效率、快速可靠的镀层厚度测量及材料分析设备。利用X射线荧光（XRF）进行镀层厚度测量和材料分析，提高过程和质量控制。

概述：

深圳市方源仪器有限公司—英国牛津仪器中国总代理商!台式XRF射线荧光分析仪X-Strata920是一款低成本高效率、快速可靠的镀层厚度测量及材料分析设备。利用X射线荧光（XRF）进行镀层厚度测量和材料分析，提高过程和质量控制。

台式XRF射线荧光分析仪X-Strata920镀层测厚仪是结构紧凑、坚固耐用、用于质量控制的可靠的台式X射线荧光分析设备，提供简单、快速、无损的镀层厚度测量和材料分析。

X-Strata920 在工业领域如电子行业、五金电镀行业、金属合金行业及贵金属分析行业表现出的分析能力，可进行多镀层厚度的测量。

 

为这些行业提供了：

以更有效的过程控制来提高生产力

有助电镀过程中的生产成本zui小化、产量zui大化

快速无损地分析珠宝及其他合金

快速分析多达4层镀层

操作简单，只需要简单的培训

无损分析：无需样品制备

经行业认证的技术和可靠性，确保每年都带来收益

分析只需三步骤

杰出的分析准确性和精确性

在镀层测厚领域拥有超过20年的丰富经验

镀层测厚仪X-Strata系列使用功能强大、操作简单的X射线荧光光谱仪进行镀层厚度测量，保证质量的同时降低成本。

 

的性能：

快速、精确的分析：大面积正比计数探测器和牛津仪器50瓦微聚焦X射线光管（X射线光束强度大、斑点小，样品激发佳）相结合，提供*灵敏度

简单的元素区分：通过次级射线滤波器分离元素的重叠光谱

性能优化，可分析的元素范围大：X-Strata920 预置800多种容易选择的应用参数/方法

的长期稳定性：

自动热补偿功能测量仪器温度变化并做修正，确保稳定的测试结果

例行进行简单快 速的波谱校 准，可自 动检查仪器性能（例如灵敏性）并进行必要的修正

坚固耐用的设计

可在实验室或生产线上操作

坚固的工业设计

 

运用领域行业：

电子行业

电子、电气原件
有效控制生产过程，提高生产力

确保元件可靠性

同时测量焊料合金成份和镀层厚度

优化质量控制，确保产品生命期
例如：

分析导电性镀层金和钯的厚度

测量电脑硬盘上的NiP层厚度

五金电镀行业

电镀处理的成本zui小化，产量zui大化

快速简单的分析

同时进行单层或多层镀层厚度测量及成份分析

zui多可分析4层镀层

镀液成份分析

金属合金行业

金属合金成份分析和牌号认定
珠宝及其他合金的快速无损分析

贵金属合金分析

黄金纯度分析

材料鉴定

 

产品技术参数：

三种配置选项

固定样品台   样品台位置固定 经济、实用 平面样品台设计，适合高 度不超过1.3"(33mm)的样 品分析

加深样品台   高度每英寸(25.4mm)可 调，架构式样品舱可容纳 zui大高度6.3"(160mm)的 样品

程控样品台   用于自动化测量 方便根据测试位置放置样品， 并精准定位测量点 样品台尺寸：22"(D) x 24"(w)，即560mm (深) x 610mm (宽) 程控台移动距离：7" x 7"， 即178mm x 178mm

 

更多参数请！

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