XRF分析是一種成熟、值得信賴的可靠技術(shù)，可用于測(cè)量從珠寶到工程設(shè)備等各種部件的鍍層厚度。作為質(zhì)量控制流程的一個(gè)關(guān)鍵部分，您很可能會(huì)依靠XRF的測(cè)試結(jié)果來控制流程，并在發(fā)貨前測(cè)試成品部件的質(zhì)量。

然而，雖然XRF是一種可靠的技術(shù)，但它也很容易得到錯(cuò)誤結(jié)果，尤其是對(duì)于鍍層厚度測(cè)量。在這篇文章中，我們將討論您的XRF測(cè)量出錯(cuò)的原因，以及您可以采取的預(yù)防措施。

一般來說，測(cè)量出錯(cuò)有兩種原因：要么您的儀器有問題，要么您的測(cè)量方法有問題。我們先來看看儀器方面的問題。

如何確保您的XRF工作正常。

XRF分析儀是一種精密儀器，在其使用期內(nèi)–從您完成常規(guī)檢查到制造商年檢都需要小心使用。這是您確保XRF提供正確結(jié)果所需的必要工作。

• 常規(guī)儀器檢查 常規(guī)儀器檢查由操作員按照制造商建議的時(shí)間間隔進(jìn)行。此類檢查會(huì)監(jiān)測(cè)儀器的內(nèi)部性能，如X射線探測(cè)器強(qiáng)度、探測(cè)器分辨率和探測(cè)器增益。如果發(fā)現(xiàn)細(xì)微變化，儀器會(huì)自動(dòng)進(jìn)行調(diào)整。而如果變化超出預(yù)期，您的分析儀會(huì)發(fā)出警報(bào)，此時(shí)需要聯(lián)系制造商。遵守制造商建議的檢查間隔是很重要的——如果時(shí)間間隔太長(zhǎng)，就會(huì)錯(cuò)失發(fā)現(xiàn)細(xì)微變化的時(shí)機(jī)，如果時(shí)間間隔太短，分析儀可能會(huì)過度矯正，因此也可能帶來錯(cuò)誤。

  
  

• 校準(zhǔn) 進(jìn)行常規(guī)儀器檢查之后，在使用XRF分析儀進(jìn)行質(zhì)量控制之前，您需要驗(yàn)證您的校準(zhǔn)。您可以使用已知的生產(chǎn)零件或參考樣（也稱為標(biāo)準(zhǔn)樣）。重要的是，此類參考樣須從經(jīng)認(rèn)證的供應(yīng)商處購(gòu)買，最好定期由ISO17025認(rèn)可實(shí)驗(yàn)室對(duì)其進(jìn)行重新認(rèn)證。

   

• 儀器認(rèn)證 作為儀器年檢的一部分，建議您讓原始制造商對(duì)您的XRF分析儀進(jìn)行重新認(rèn)證，確保敏感部件正常工作。這通常由專業(yè)工程師進(jìn)行，其將進(jìn)行全面診斷并提出相應(yīng)建議。 

即使使用設(shè)置完善的儀器，在進(jìn)行測(cè)量時(shí)，還會(huì)有其他因素可能導(dǎo)致錯(cuò)誤。

• 未履行樣品對(duì)焦 確保樣品被正確對(duì)焦是測(cè)量過程中的一個(gè)關(guān)鍵步驟。確保X射線管、樣品和探測(cè)器彼此之間的距離固定，這對(duì)于準(zhǔn)確的鍍層厚度結(jié)果至關(guān)重要。如果X射線管、樣品和探測(cè)器彼此之間的距離太大，則鍍層會(huì)變薄，反之亦然。如果您要測(cè)量多層鍍層，錯(cuò)誤就會(huì)疊加。

  
  

• 基底變化 基底內(nèi)的其他元素會(huì)干擾鍍層間的X射線相互作用。這意味著產(chǎn)生的X射線信號(hào)與正確的鍍層厚度無(wú)法關(guān)聯(lián)。好在目前這種影響已被充分認(rèn)識(shí)理解，所以如果您使用與您的實(shí)際基底非常相似的材料進(jìn)行校準(zhǔn)，則可補(bǔ)償這種影響。本質(zhì)上，您的基底材料需與您的校準(zhǔn)參考樣非常相似。

  
  

• 超出校準(zhǔn)范圍的測(cè)量 您儀器的校準(zhǔn)是針對(duì)有限范圍內(nèi)的鍍層厚度和成分進(jìn)行優(yōu)化。在較大范圍內(nèi)，鍍層厚度和X射線強(qiáng)度之間的關(guān)系不是線性的，因此您不能保證在儀器校準(zhǔn)范圍之外也獲得可靠的結(jié)果。您的XRF制造商能夠告訴您校準(zhǔn)的測(cè)試極限，并且您也可以在軟件上設(shè)置警告，如果測(cè)量值超出“安全"范圍，就會(huì)提醒操作員，如此您可以確保始終在校準(zhǔn)極限范圍內(nèi)進(jìn)行測(cè)量。