日本SANKO三高膜厚計(jì)SWT-9000
產(chǎn)品介紹
SWT-9000F超薄簡約數(shù)碼
測量范圍為0至2.5 mm寬范圍
零點(diǎn)·可通過標(biāo)準(zhǔn)調(diào)整立即測量
應(yīng)用程序使用
油漆/襯里/電鍍
繪畫一般
產(chǎn)品規(guī)格
| 測量范圍 | 0至2.50毫米 |
| 顯示分辨率 | 1μm：0至999μm
切換0.1μm：0至
400μm0.5μm：400至500μm0.01mm
：1.00至2.50 mm |
| 測量精度 |
0至100μm：均勻表面±1μm或指示值的±2％
101μm至2.50 mm：±2％以內(nèi)
|
| 顯示方法 | CD數(shù)碼，顯示保持 |
| 記憶 | 校準(zhǔn)曲線×1 |
| 探測器 | 1點(diǎn)恒壓接觸式，帶V型切口，φ13×48 mm |
| 電源 | AA電池（1.5 V）x 2自動(dòng)關(guān)機(jī) |
| 工作溫度 | 0至40°C（非冷凝） |
| 尺寸重量 | 72（W）×30（H）×156（D）mm，約270g |
| 附件 | 標(biāo)準(zhǔn)厚板，測試零板，存儲盒 |
日本SANKO三高膜厚計(jì)SWT-9000
SWT-7000+FN325探頭：可進(jìn)行鐵材和非鐵材為基材上的涂層厚度。
新的兩用探測頭FN-325可用于SWT系列的產(chǎn)品（7000、8000、9000）可測量鐵與非鐵底材為基體的涂層厚度。
SWT系列探頭可互換。
：
| 型式 | Fe-2.5※
/Fe-2.5L | Fe-2.5LwA | Fe-0.6Pen | Fe-10 | Fe-20 | | 測定方式 | 電磁誘導(dǎo)式 | | 測定範(fàn)囲 | 0～2.50mm | 0～600μm | 0～10mm | 0～20mm | | 表示分解能 | 1μm：
0～999μm
切替により
0.1μm：
0～400μm
0.5μm：
400～500μm
0.01mm：
1.00～2.50mm | 1μm：
0～600μm
切り替えにより
0.1μm：
0～400μm、
0.5μm：401～500μm | 1μm：
0～999μm
0.01mm：
1～10mm | 1μm：
0～999μm
0.01mm：
1～5mm
0.1mm：
5～20mm | 測定精度
（平滑面に
対して） | 0～100μm：±1μm
または指示値の±2％以內(nèi)
101μm～2.50mm：±2％以內(nèi) | 0～100μm：±1μm
または指示値の±2%以內(nèi)
101μm～600μm：指示値の±2%以內(nèi) | 0～3mm：±(5μm+指示値の3%)
3.01mm以上：±3％以內(nèi) | | プローブ | １點(diǎn)定圧接觸式、Vカット付
φ13×48mm
18Ｘ23Ｘ67mm | １點(diǎn)定圧接觸式
測定部：約20×57mm
全長約550～1,550mm（伸縮式）Ｘ23Ｘ67mm | １點(diǎn)定圧接觸式、Vカット付
φ5.6×94mm | １點(diǎn)定圧接觸式、Vカット付
φ18×47mm | １點(diǎn)定圧接觸式、Vカット付
φ35×59mm | | オプション※2 | V型プローブアダプタ/--- | --- | --- | --- | --- | | 付屬品 | 標(biāo)準(zhǔn)厚板
テスト用ゼロ板（鉄用） | 標(biāo)準(zhǔn)厚板
テスト用ゼロ板（鉄用）
収納ケース | 標(biāo)準(zhǔn)厚板
テスト用ゼロ板（鉄用） | | 測定対象 | 鉄?鋼などの磁性金屬素地上の塗裝、ライニング、溶射膜、メッキ（電解ニッケルメッキを除く）など | 鉄?鋼などの磁性金屬素地上の塗裝、ライニングなど手の屆かない所、離れた所の塗膜厚測定用 | 鉄?鋼などの磁性金屬素地上の塗裝、ライニングなど狹い箇所、小さい部位の塗膜厚測定用 | 比較的厚物の測定物用 | 厚物の測定物用 | |
|
※プローブは耐熱用（約200℃）です。 詳しくはお問い合わせ下さい。
※２オプション：Ｖ型プローブアダプタ(3種類有り：φ5以下、φ5～10用、φ10～20用) |
| 型式 | NFe-2.0※/NFe-2.0L | NFe-0.6 | NFe-8 | | 測定方式 | 渦電流式 | | 測定範(fàn)囲 | 0～2.00mm | 0～0.6mm | 0～8mm | | 表示分解能 | 1μm：
0～999μm
切替により
0.1μm：
0～400μm
0.5μm：
400～500μm
0.01mm：
1.00～2.00mm | 1μm：
0～600μm
切替により
0.1μm：
0～400μm
0.5μm：
400～500μm | 1μm：
0～999μm
0.01mm：
1～8mm | 測定精度
（平滑面に
対して） | 0～100μm：±1μm
または指示値の±2％以內(nèi)
101μm～2.00mm：±2％以內(nèi) | 0～100μm：±1μm
または指示値の±2％以內(nèi)
101μm～600μm：±2％以內(nèi) | 0～100μm：±(1μm+指示値の2%)
101μm～8.00mm：指示値の±2％以內(nèi) | | プローブ | １點(diǎn)定圧接觸式、Vカット付
φ13×47mm
18Ｘ23Ｘ67mm | １點(diǎn)定圧接觸式、Vカット付
φ11×48mm | １點(diǎn)定圧接觸式、Vカット付
φ35×61mm | | オプション※2 | V型プローブアダプタ/--- | --- | --- | | 付屬品 | 標(biāo)準(zhǔn)厚板
テスト用ゼロ板（非鉄用） | | 測定対象 | アルミ、銅などの非磁性金屬素地上の絶縁性皮膜など | | 比較的汎用な測定物用 | 細(xì)い丸棒、細(xì)管、微小片等での高安定性用 | 比較的厚物の測定物用 |
|
※プローブは耐熱用（約200℃）です。 詳しくはお問い合わせ下さい。
※日本SANKO三高膜厚計(jì)SWT-9000２オプション：Ｖ型プローブアダプタ(3種類有り：φ5以下、φ5～10用、φ10～20用) |
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