LET-2000D系列半导体动态参数测试系统

本公司7月15日9点34分报道：LET-2000D系列半导体动态参数测试系统#技术报道

产品描述

硬件优势

→ 采用高分辨率的12 bit示波器：正确反映波形的细节，并准确计算出参数

→ 采用发布的光隔离、高CMRR探头系统，解决SIC/GAN的 测试难点

→ 高带宽的电压和电流探测，弥补一般系统对SIC/GAN的测量要求

→ 可以满足上/下管测试，避免频繁连接探头

→ 电压覆盖范围宽、并可以再次扩展

→ 器件驱动设计支持SIC/GAN器件

→ 系统带宽：>400MHz

→ 系统可以定制

软件特点

→ 测量参数齐全：开关参数、短路参数、反向恢复参数

→ 支持器件类型多：单管/?？椤OSFET、IGBT、FWD、GTR …

→ 测试方式：单脉冲、多脉冲

→ 离线数据分析：既可以在线测量，也可以记录数据离线分析

→ 测试UI符合工程师的使用习惯

→ 测量项目及器件支持扩展

系统参数

→测量电压：标配2000V覆盖650V,1200V,1700V器件的测试。 可升 级到10000V。
→测量电流：标配200A，覆盖单管、及部分?？榈牟饬?，可升级到6000A。
→短路电流：2000A
→测量参数：Vce/Vds,Ic/Id,Vgs/Vge,toff, td(off), tf(Ic),Eoff, Ton, td(on), tr(Ic), Eon, dI/dt, dv/dt, Err, Qrr, trr, Irr等。
→测量项目：开关参数、短路参数、反向恢复参数、安全工作区等
→测量器件：单管/?？?，MOSFET、IGBT、FWD、GTR…
→系统带宽：350MHz、500MHz、1GHz
→测量通道：4CH
→双脉冲脉宽：最小20ns，高达150us。
→双脉冲数：单脉冲、2-30脉冲
→测量依据标准：IEC60747-8 and IEC60747-9、JEDEC JEP173

LET-2000D的应用

→功率半导体的来料检验
→功率半导体的动态参数验证
→实验室的器件评估
→实验室的驱动设计改善
→实验室的PCB设计评估
→功率半导体的生产检验和筛选

测试项目

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