自旋电子学经过数十年的发展，已在传感器、非易失性磁存储以及新材料特性研究等多个领域展现出重要价值。它不仅是当前科学研究的前沿热点，也受到了工业界的广泛重视。对磁畴进行直接观测与记录，对于深入理解材料特性具有重要意义；而剖析磁畴的运动过程，不仅能直观展示磁性翻转现象，更有助于揭示其背后的物理机理。

传统的单点磁滞回线测量仪已难以满足当前需求，相比之下，磁光克尔综合测试平台能够追踪平面内数百万点的实时磁性动态信息。配合该平台提供的直流探针和高频探针，样品测试变得无比便捷。如今，自旋电子学与磁学的研究已从早期的磁性驱动翻转，深入到直流电流、脉冲电流、微波脉冲乃至光驱动等多种激励源作用下的复杂过程研究。

在这样的背景下，托托科技 磁光克尔显微镜综合测试设备——TTT-02-Kerr Microscope。显微磁畴空间分辨率优于0.5微米，磁光克尔角分辨率优于0.1毫度，并支持极向、纵向、横向三种磁光克尔效应测量方式。它不仅能实时追踪平面内数百万点的磁畴动态，还能搭配探针台，实现电学、磁学、光学参数的同步观测。因此，该设备广泛应用于磁学和自旋电子学领域，是观测磁光克尔效应、磁滞回线、磁畴翻转与扩展等关键现象的理想工具。

托托科技 磁光克尔显微镜综合测试设备拥有多项产品亮点：

智能照明系统：

提供稳定且均匀的光源。

具备极向、纵向和横向测试能力。

光源亮度高达市场上同类产品的4倍。

多功能显微系统：

支持线偏振光和圆偏振光。

提升了相差畸变矫正效果。

配备电动显微聚焦功能。

矢量磁场系统：

垂直磁场模式Z高可达1.4T（间隙1cm）。

面内磁场Z高可达1.0T（间隙1cm）或0.36T（间隙4cm），并适配低温恒温器；矢量模式可达0.35T。

面垂直磁场与面内磁场可快速切换。

相机系统：

超动态范围达30000:1（相比同类提升十倍）。

高量子效率超过80%（相比同类提升1.2倍）。

支持高速摄像与高分辨率成像。

直流/交流探针：

可与多种外接电表匹配（如6221，2400等）。

可配合高频电表使用。

适用于配合引线键合器件进行测试。

光学平台：

采用气浮隔振技术。

配备电子主动反馈隔振系统，确保稳定性。