XF-A5S是西凡仪器推出的一款全新升级光路的X射线荧光光谱仪，可广泛应用于贵金属产业链、电镀产业链、宝石产业链等行业。该产品搭载美国AMPTEK定制Si-PIN探测器，内置Intel十核CPU工控电脑，采用Smart FP算法，创新性应用西凡第二代X射线与可见光共焦点垂直光路，其可获得更小的实际照射焦斑。能够精准分析贵金属成分、宝石成分、镀层厚度和离子浓度等，检测速度快，测试稳定性好、准确性高，性价比高。

产品特点

元素检测范围：钾(19)～铀(92)

可支持最多30个元素同时计算

可支持4层镀层厚度及合金镀层分析

可支持宝石人工/天然分析

镀层报警、铼钨检测报警

分析范围：

贵金属：0.010%～99.999%

镀层：0.002um~80um

液体：10mg/L~200g/L

检测精度：

贵金属：±0.03%(9999金)

镀层：RSD≤2.5%

液体：RSD≤2.5%

检测样品：贵金属合金/镀层/宝石/珍珠/液体

支持多点连续测试，测试效率高

核心部件

探测器：美国AMPTEK定制Si-PIN

探测器面积：6mm2

分辨率：145±5eV

内置工控电脑：Intel i3十核

高压电源：50KV/1mA数字高压电源

X射线管：50KV/1mA

窗口材料：铝

靶材：钨

焦点：Φ0.5mm

准直器：

XF-A5S：Φ2.0毫米