XF-S8贵金属检测仪是西凡仪器针对贵金属行业推出的一款专用检测万足金的旗舰X射线荧光光谱仪，支持贵金属成分检测和液体浓度检测，可广泛应用于珠宝首饰工厂、实验室、检测站和回收等行业和单位。该产品采用美国AMPTEK定制Fast-SDD探测器，内置十二核工控电脑，采用X射线与可见光共焦点光路设计和全新的Smart FP算法。检测速度快，测试稳定性好、准确性高，适用范围广。

产品特点

元素检测范围：铝(13)～铀(92)          

可支持最多30个元素同时计算

镀层报警、铼钨检测报警

可支持宝石人工/天然分析

分析范围：

贵金属：0.0010%～99.9999%

镀层：0.001um~80um

液体：5mg/L~200g/L

检测精度：

贵金属：±0.001%(99999金)

镀层：RSD≤1.5%

液体：RSD≤1.5%

检测样品：贵金属合金/镀层/宝石/液体

支持多点连续测试，测试效率高

三准直器，多滤光片自动切换

遵守ISO3497及ISO3497标准

支持连接天平采集重量数据以及获取黄金实时牌价计算价格

支持自动计算多结果的平均值和RSD

核心部件

探测器：美国AMPTEK定制Fast-SDD

面积：70mm²

分辨率：125±5eV

HEE重元素检测增强技术

内置工控电脑：Intel i5十二核

高压电源：50KV/1mA数字高压电源

X射线管：50KV/1mA

窗口材料：铍

靶材：钨

焦点：Φ0.1mm

准直器：Φ0.5mm/Φ1.0mm/Φ2.0mm