OmniScan X3 64相控陣探傷儀
具體成交價以合同協(xié)議為準
- 公司名稱 上海博韜智造無損檢測技術(shù)有限公司
- 品牌 OLYMPUS/奧林巴斯
- 型號
- 產(chǎn)地
- 廠商性質(zhì) 代理商
- 更新時間 2025/4/22 17:32:23
- 訪問次數(shù) 76
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工業(yè)內(nèi)窺鏡（RVI）、無損檢測（NDT）產(chǎn)品（測厚儀、超聲波探傷儀、渦流探傷儀、相控陣TOFD)、光譜儀、熱像儀、熱補儀，以及自主研發(fā)的定制化產(chǎn)品（風電葉片相控陣自動掃查系統(tǒng)、手持式單軸編碼掃查器、鏈式掃查器、小管徑掃查器）等。
| 產(chǎn)地類別 | 進口 | 價格區(qū)間 | 面議 |
|---|---|---|---|
| 儀器種類 | 數(shù)字式 | 應用領(lǐng)域 | 道路/軌道/船舶,鋼鐵/金屬,航空航天,汽車及零部件,綜合 |
提供高級功能的OmniScan X3 64相控陣和TFM探傷儀
威力強大，小巧便攜
OmniScan X3 64相控陣探傷儀沿用了已經(jīng)現(xiàn)場驗證、堅固耐用、輕盈便攜的OmniScan X3外殼，其強大的聚焦功能得到了更大的晶片孔徑容量的支持，可使您充分利用64晶片相控陣探頭，進行128晶片孔徑的TFM檢測。 您可以利用這款儀器的增強性能，迎接檢測較厚、衰減性較強材料的挑戰(zhàn)，并提升您的潛力，為更廣泛的應用開發(fā)新程序。
受益于64晶片脈沖發(fā)生器相控陣技術(shù)
使用OmniScan X3 64探傷儀可以充分發(fā)揮64晶片相控陣探頭的潛力，提高焦點處的分辨率。
向左滑動：OmniScan X3 64探傷儀使用一個全部64晶片孔徑（5L64-A32探頭）獲得的圖像，在焦點處提供了更好的PA分辨率，可使您更輕松地分辨出靠在一起或聚集成簇的缺陷指示。
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