| 产地类别 | 进口 | 价格区间 | 面议 |
|---|---|---|---|
| 应用领域 | 电子/电池,汽车及零部件 |
X-RYA膜厚测量仪标准片XRF-2020校正块
通用型:
标准片
可应用各种X射线测厚仪品牌
用于校正镀层测厚仪
标准曲线及添加应用程序
X射线测厚仪标准片：
铜/镍/锌/铬/银/金/钯/锡/锌镍合金等
标准片可订制，均附带标准证书
X射线镀层测厚仪标准片X-RAY膜厚仪校正片
是X射线测厚仪在测金属镀层厚度时进行的标准化校准及建立测试档案。
是膜厚测试中常用的标准曲线法，是测量已知厚度或组成的标准样品，根据荧光X-射线的能量强度及相应镀层厚度的对应关系，来得到标准曲线。
以此标准曲线来测量镀层样品，以得到镀层厚度或组成比率。对于PCB、五金电镀和半导体等行业使用测厚仪来检测品质和控制成本起到了很重要的作用。
X-RYA膜厚测量仪标准片XRF-2020校正块
铜，镍，铬，锌，金，银，锡，锌镍，钯各种厚度及规格
均可订制各种厚度值
校准片均附校准证书
微先锋膜厚仪标准片
通用型:适应不同品牌镀层测厚仪校正及测量
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