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日立分析仪器(上海)有限公司

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Radiant Vision Systems成像光度计

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天津瑞利光电科技有限公司注册地址位于天津市和平区南营门街南京路235号河川大厦A座22B-1,注册机关为天津市和平区市场监督管理局,法人代表为陆兆航,经营范围包括光电技术开发、技术咨询、技术转让、技术服务;光电设备、光学仪器、机电设备及配件、电气成套设备、工业自动化控制设备、电子设备、智能设备、通讯设备、仪器仪表、实验室设备、五金交电、电线电缆、环保设备、汽车配件、工艺品、办公用品的销售;自营和代理货物及技术的进出口业务;光电设备安装、调试及检修(依法须经批准的项目,经相关部门批准后方可开展经营活动)

光电设备、光学仪器、机电设备及配件、电气成套设备、工业自动化控制设备、电子设备、智能设备、通讯设备、仪器仪表、实验室设备、五金交电、电线电缆、环保设备、汽车配件、工艺品、办公用品的销售;自营和代理货物及技术的进出口业务;光电设备安装、调试及检修

产地类别 进口 价格区间 面议
应用领域 电子/电池,电气

产品名称:Radiant Vision Systems成像光度计ProMetric Y

产品型号:ProMetric Y16-G

产品介绍

ProMetric Y是一系列性能成像光度计,专为显示器、键盘、照明产品、设备组件和表面的大批量生产测试而设计。ProMetric Y成像光度计将科学级图像传感器与光滤波器相结合,光滤波器根据CIE函数捕获反映标准人类视觉亮度感知的光值。这种组合使您能够应用用户的视觉灵敏度,同时利用自动化的优势——速度、可重复性和降低的成本——进行生产级检查。

ProMetric Y提供一系列高分辨率传感器选项。这些传感器能够对显示器(LCD、OLED、microLED)进行像素级测量,评估可变距离和视场下的虚拟投影(平视显示器、增强现实),并准确测量发光组件的亮度。

性能特点

高速:短测量时间(感光)可达0.5秒

高分辨率传感器选项

可用于光度和辐射模型

多种镜头选项:24毫米、35毫米、50毫米R、100毫米和200毫米

ProMetric控制和分析软件是标准软件。TrueTest自动视觉检测软件和其他可选软件模块。

技术参数

产地:美国

传感器像素分辨率:5312 x 3032

传感器百万像素:16.1

传感器类型:CMOS

系统动态范围(单次曝光,每像素):70 dB(1 x 1装仓)

亮度(MIN):

0.0005 cd/m2检测限

0.0010 cd/m2@信噪比=60

0.0015 cd/m2@信噪比=100

亮度(MAX):1010 cd/m2,带可选ND滤光片

系统精度:照度±3%;亮度(Y)±3%

短期重复性:照度±0.03%;

亮度(Y)±0.03%

镜头类型:电子控制焦距和光圈

可用焦距:35、50、100毫米

视野(全角度,H x V度)

35毫米24°x 14°

50毫米17°x 10°

100 mm宏观8°x 5°

测量时间:min.0.5秒

空间测量能力:亮度、辐射度、照度、辐照度、发光强度、辐射强度

通信接口:以太网1000

单位:foot-lambert、cd/m2、nit、W/sr/m2、foot-candles、lux、lux-s、W/m2、W-s/m2、坎德拉、W/sr

电源:外部交流/直流适配器,100-240伏,50-60赫兹,60瓦

尺寸(高x宽x深):86毫米x 86毫米x 170毫米

重量:1.1公斤

工作温度:5-35°C

工作湿度:20-70%非冷凝

产品应用

显示器测试

ProMetric Y成像光度计用于准确测量显示器上的光质量,它客观地量化了空间亮度、对比度和均匀度值,以及mura、漏光、死像素、线条和粒子等缺陷。

ProMetric Y具有高的高分辨率传感器选项,非常适合在像素和子像素处捕捉测量值,以进行光输出表征。在微型LED、迷你LED和OLED等发射型显示器中,独立发射的像素可能因像素而异,导致亮度或颜色不均匀,在不同的显示器亮度状态下会恶化。在一次测量中,ProMetric Y在数千个发射像素上准确详细地测量整个显示器,获取显示器中每个像素的值。

背光符号

TrueTest软件配对的ProMetric Y会自动将分析区域应用于unique的符号(无论是字母数字还是其他形状)。阈值可以应用于允许符号集的离散测量的目标亮度值。评估符号亮度、字符间和字符内的均匀性,以及相邻表面上符号的光泄漏或反射。

外观表面缺陷

ProMetric Y对光线的细微波动进行光度评估,可用于反射和对比度变化指示缺陷的表面的自动目视检查。使用高分辨率和动态范围,ProMetric Y可以对细微的划痕、凹痕、缺失或扭曲的元素、碎片和颗粒、污迹和整体表面均匀性进行分类,并为可接受的缺陷类型和严重程度应用公差。

 


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