bunkoukeiki显微成像光谱仪CLP-50

bunkoukeiki显微成像光谱仪CLP-50

(1) 过滤器手动切换支架（手动滑动式，最多可安装6个过滤器）

(2) 入射狭缝千分尺（狭缝显示，最小刻度10μm，宽度0～4mm可变）

(3) V型孔径（最小刻度1mm，入射狭缝高度1-20mm可变）

④ 波长计数器刻度盘

(5) 光谱仪上盖

⑥出口狭缝千分尺（狭缝显示，最小刻度10μm，宽度0～4mm可变）

⑦ 千分表条

波长显示由波长刻度盘（3位）和位于刻度盘右侧的波长显示刻度盘笼条（ 1μm或更多位）组成。

如果千分表条在机身内部，请按原样读取千分表显示。

（例：500→500nm ）

如果千分表棒从主体突出，则计数器的读数增加1000 。

* 图中显示为直读1200线/mm衍射光栅。600行双读，300行四读，150行八读。

特征

• 分辨率为1.0nm（1200线/mm），波长精度为±1.0nm，在同类产品中性能最佳。

• 由于衍射光栅可以更换，因此可以在200nm到25μm的宽波长范围内使用，更换安装的再现性也很好。

• 采用大有效面积的衍射光栅，光学系统在F=3.0时亮度高，像差小。

• 机构和操作简单而坚固，因此耐冲击和振动，狭缝机构几乎没有反冲，因此可以进行高精度测量。

• 由于入射狭缝和出射狭缝配置在相反的两侧，因此很容易组合其他光学系统和特殊附件，并且可以创建满足预期用途的分光系统。

• 通过安装步进电机波长驱动器（选项），可以使用外部脉冲信号或 GP-IB 进行控制。

• 由于同步发射波长范围较宽，可以安装多通道检测器（选件）。

• 小巧轻便，不占用大量安装空间。它也很容易携带。