非接触粗糙度轮廓仪

白光干涉微观形貌及粗糙度仪设计用于高精度微观形貌分析及高精度粗糙度测量的应用。
3D基本参数(Sa, Sq, St, Smr, ...)
表面校平、镜像、旋转
空间滤波器、填充非测量点、设置阈值、修描表面点
除去形状、标准滤波器
提取感兴趣区域、提取轮廓
重采样
3D视图、伪色视图、照片模拟
水平距离和高度测量、阶跃高度测量
顶点计数分布、孔和顶点体积测量
频率分析（平均功率谱密度）
功能分析（Abbott曲线、切片）
公差极限（合格/不合格）显示

北京瑞科中仪科技有限公司专注半导体材料研究分析设备的研发和应用。专业的团队，专精的服务，提供理想的解决方案。

我们长期专注于半导体材料研究与分析设备的经销和代理，为高校、企业科研工作者提供专业的分析解决方案。以专业技能为导向，用科技来解决用户在科研中遇到的难题。专业的技术工程师和科研工作者进行现场演示和技术交流，打消顾虑，彼此协作，为我国的科研领域谱写新篇章。

北京瑞科中仪科技有限公司长期代理销售供应多种分子材料的研究分析设备，其中包括但不限于扫描电子显微镜、感应耦合等离子体化学气相沉积系统、离子束刻蚀机、等离子清洗机、物理气相沉积系统以及各品牌的光学显微镜以及实验室设备仪器。

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