国产X射线荧光ROHS分析仪工作原理
X射线荧光光谱分析仪技术基本理论
X-荧光 物质是由原子组成的，每个原子都有一个原子核，原子核周围有若干电子绕其飞行。不同元素由于原子核所含质子不同，围绕其飞行的电子层数、每层电子的数目、飞行轨道的形状、轨道半径都不一样，形成了原子核外不同的电子能级。在受到外力作用时，例如用X-光子源照射，打掉其内层轨道上飞行的电子，这时该电子腾出后所形成的空穴，由于原子核引力的作用，需要从其较外电子层上吸引一个电子来补充，这时原子处于激发态，其相邻电子层上电子补充到内层空穴后，本身产生的空穴由其外层上电子再补充，直至*外层上的电子从空间捕获一个自由电子，原子又回到稳定态（基态）。这种电子从外层向内层迁移的现象被称为电子跃迁。由于外层电子所携带的能量要高于内层电子，它在产生跃迁补充到内层空穴后，多余的能量就被释放出来，这些能量是以电磁波的形式被释放的。而这一高频电磁波的频率正好在X波段上，因此它是一种X射线,称X-荧光。 因为每种元素原子的电子能级是特征的，它受到激发时产生的X-荧光也是特征的。 注意，这里的X-荧光要同宝石学中所描述的宝石样品在X射线照射下所发出可见光的荧光概念相区别。
国产X射线荧光ROHS分析仪参数规格
X射线荧光光谱分析仪元素分析范围：从钠（Na）至铀（U）
元素含量分析范围：ppm—99.99%(不同材质，分析范围不同)
同时分析元素：同时可以分析30种以上元素
检测限：RoHS指令规定的有害元素（Cd/Pb/Cr/Hg/Br）检出限达ppm级
测量镀层：镀层厚度测量*薄至0.005微米
测量对象状态：粉末、固体、液体
测量时间：60秒—200秒
工作温度:15℃—30℃
工作湿度：≤70%
工作电压：AC 110V/220V
高效超薄端窗X光管
电制冷UHRD探测器
内置高清晰摄像头
光路增强系统
可自动切换型准直器和滤光片
加强的金属元素感度分析器
外观尺寸： 510×589×350 mm
样品杯尺寸（10个）：40.7×26mm
重量：55Kg
产品特点
X射线荧光光谱分析仪专业的水泥、钢铁、矿料等全元素分析，亦可用于镀层检测和RoHS检测。
超薄窗大面积的*SDD探测器。
抽真空样品腔，有利于低含量轻元素的分析
针对不同样品可自动切换准直器和滤光片。
任意多个可选择的分析和识别模型
相互独立的基体效应校正模型
多变量非线性回归程序
智能全元素分析软件，与仪器硬件相得益彰，且操作简单。
应用领域
水泥检测
钢铁和有色金属检测
矿料分析
RoHS检测