phoenix的micromeIx neo和nanomeIx neo系列產品將高分辨率的二維X射線技術和三維CT技術完美地集成于一套系統(tǒng)。多項*的創(chuàng)新設計，以及*的定位精度，使得這套系統(tǒng)成為科學研究、缺陷分析、過程和質量控制等領域可靠有效的解決方案。
phoenix|x-ray x|act技術能夠提供簡便的基于CAD文件導入的微米級自動檢測功能。特別受益于GE高動態(tài)響應和主動冷卻特性的DXR平板探測器，使得系統(tǒng)可以實現高達30fps刷新率，提供了杰出的實時清晰影像和高速三維CT掃描性能。

• GE高動態(tài)響應的DXR數字探測器使得清晰實時檢測影像成為可能
• 高功率180 kV / 20W微納米射線管可穿透高吸收率的電子產品
• 高效自動的CAD檢測程序使得系統(tǒng)設置時間小化
• 能夠實現實時的CAD和檢測結果匹配，即使在旋轉及傾斜的檢測視角
• *的缺陷覆蓋率和重復性
• 細節(jié)分辨率，微米管0.5微米，納米管0.2微米
• 可選配Flash! TM 圖像優(yōu)化技術
• 27寸顯示器更容易辨別缺陷
• 可選配高分辨率的三維微/納米級CT或者planarCT
• 可選配三維CT，10秒可完成掃描