SU1510顯微鏡采用精巧化設(shè)計(jì)，比同類設(shè)備分辨率和配置相同情況下，體積縮減20%，節(jié)約空間，標(biāo)配二次電子和背散射探測器，便于形貌和襯度的同時(shí)觀察，具有日立鎢燈絲電鏡通有的四偏壓、四孔光闌、高分辨背散射、長襯管等*設(shè)計(jì)。

SU1510顯微鏡主要特點(diǎn)：

1、 標(biāo)配低真空模式，且高低真空切換一鍵實(shí)現(xiàn)；
2、 占地體積小，便于實(shí)驗(yàn)室規(guī)劃設(shè)計(jì)；

3、 標(biāo)配維護(hù)視頻，客戶可自己實(shí)現(xiàn)燈絲更換等維護(hù)

掃描電子顯微鏡（SEM）被廣泛應(yīng)用于納米技術(shù)，半導(dǎo)體?電子行業(yè)，生命科學(xué)，材料科學(xué)等領(lǐng)域的材料結(jié)構(gòu)觀察。近年來，新一代的電子器件應(yīng)用中受到廣泛期待的新型碳材料，高分子材料，復(fù)合材料等的研究作為*科學(xué)技術(shù)的中堅(jiān)技術(shù)，在*范圍內(nèi)受到熱捧。掃描電子顯微鏡廣泛用于這些材料的觀察?評價(jià)，但僅僅具有超高分辨率還遠(yuǎn)遠(yuǎn)不夠。還要求能在低加速電壓下對表面細(xì)微結(jié)構(gòu)的觀察和高靈敏度的元素分析。除此之外，在*的研究過程中還追求電鏡的性能的持續(xù)穩(wěn)定和信賴性。