非接触式白光干涉轮廓仪

CCIMP

结构紧凑的高新能白光干涉仪

无论对分析速度的要求有多高，我们创新的CCI光学装置非接触式光学轮廓仪都能为您提供精密的3D表面测量结果。 高分辨率相机与1/10埃垂直分辨率相结合，无论是测量非常粗糙的表面，还是测量非常光滑的表面，都能获得令人不可思议的详细分析。

        CCI光学装置与光学研究人员和科学家的专业知识保持与时俱进，能满足光学领域的严苛测量要求。 CCI光学装置将强大的尺寸及粗糙度分析软件与*与伦比的工程设计融于一体，是一种非常适合用于粗糙度测量的检验工具。 CCI特别的薄膜厚度测量功能，进一步完善了为光学工业而设计的出色计量包装 。

?    2048 x 2048像素阵列，视场广，高分辨率
?    全量程0.1埃的分辨率
?    轻松测量反射率为0.3% - 100%的各种表面
?    RMS重复精度<0.2埃，阶跃高度重复精度<0.1%
?    多语言版本的64位控制和分析软件

良好的光学干涉测量技术

 •     非压电陶瓷闭环Z轴扫描控制，2.2毫米扫描范围
 •     改进后的拼接功能，使Z轴量程可达100毫米
 •     1024  x  1024像素阵列可获得高分辨率的大视场
 •     增强了角度灵敏度，能够得到更好的测量数据

从实质上消除测量的不确定性

 •     RMS重复性小于0.2埃，台阶高度重复性小于0.1%
 •     整个测量量程有着0.1埃分辨率
 •     FEA优化机械设计，具备出色的R&R能力
 •     采用ISO标准的校准，确保结果的可信度

追求长期成本效益的坚固耐用设计

 •     非压电Z轴扫描控制可省去昂贵的维修费用
 •     自动表面检测可防止撞坏镜头
 •     内置自我诊断工具可快速、轻松地排除故障
 •     操作的简便性可减少使用者出错可能

64位控制和分析软件

 •     包括中文、日文在内的多语种支持
 •     兼容大多数计算机平台，有利于开展合作性研究项目
 •     提供多种新工具，包括3D表面随时间演变过程中进行4D分析
 •     根据多批次测量数据自动生成报告

非接触式白光干涉轮廓仪无限的应用可能性

许多用户依靠CCI MP解决其他仪器*无法处理的测量问题。凭借出色的量程、非常高的分辨率以及操作简便的优势,成为在众多应用场合中研发和质量保证的理想工具。