| 应用领域 | 医疗卫生,环保,食品/农产品,石油,电子/电池 |
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特性
- 70mm2有效面积准直到50mm2
- 123ev FWHM @5.9keV
- 计数率>2,000,000cps
- 高峰背比-26000:1
- 前置放大器上升时间<60ns
- 窗口：Be(0.5mil) 12.5um或C2(Si3N4)
- 抗辐射
- 探头晶体厚度500um
- TO-8封装
- 制冷ΔT >85K
- 内置多层准直器
应用
- 超快台式和手持XRF光谱仪
- SEM中EDS系统的样品扫描或测绘样品
- 在线过程控制
- X射线分拣机
- OEM
通用 | |
探头类型 | 硅漂移探头（SDD） |
探头大小 | 70mm2准直到50mm2 |
硅晶体厚度 | 500um |
5.9keV处55Fe能量分辨率 | 峰化时间4us时，分辨率为123-135eV |
峰背比 | >20000:1（5.9keV与1keV计数比） |
探头窗口 | Be:0.5mil(12.5um)或C2（Si3N4） |
准直器 | 内部多层准直器 |
电荷灵敏前置放大器 | CMOS |
增益稳定性 | <20ppm/℃ |
外壳尺寸 XR-100FastSDD-70 | 3.00 x 1.75 x 1.13 in (7.6 x 4.4 x 2.9 cm) |
重量 XR-100FastSDD-70 | 4.4盎司（125g） |
总功率 XR-100FastSDD-70 | <2W |
质保期 | 1年 |
使用寿命 | 取决于实际使用情况，一般5-10年 |
仓储和物流 | *存放：干燥环境下10年以上 仓储和物流：-40℃到+85℃，10%到90%湿度，无凝结 |
工作条件 | -35℃到+80℃ |
采购中心
化工仪器网