ZEM-d 聚合物薄膜厚度方向熱電性能評(píng)價(jià)系統(tǒng)
- 公司名稱 QUANTUM量子科學(xué)儀器貿(mào)易(北京)有限公司
- 品牌 其他品牌
- 型號(hào) ZEM-d
- 產(chǎn)地
- 廠商性質(zhì) 生產(chǎn)廠家
- 更新時(shí)間 2025/4/11 7:23:37
- 訪問次數(shù) 2264
聯(lián)系方式:市場(chǎng)部13021034795 查看聯(lián)系方式
聯(lián)系我們時(shí)請(qǐng)說明是化工儀器網(wǎng)上看到的信息,謝謝!
應(yīng)用領(lǐng)域 | 化工,能源,電子/電池,汽車及零部件,綜合 |
---|
聚合物薄膜厚度方向熱電性能評(píng)價(jià)系統(tǒng)-ZEM-d概述:
日本ADVANCE RIKO公司塞貝克系數(shù)與電阻測(cè)量系統(tǒng)ZEM系列銷售量超過300臺(tái),廣獲科研及工業(yè)用戶的贊譽(yù),成為熱電材料域應(yīng)用廣泛的測(cè)試設(shè)備。2019年,在此前的成功基礎(chǔ)上,ADVANCE RIKO公司推出了門用于評(píng)價(jià)聚合物厚度方向上熱電性能的全新設(shè)備ZEM-d。
與之前ZEM系列產(chǎn)品(ZEM-3/ZEM-5)不同,新型號(hào)ZEM-d主要測(cè)量聚合物薄膜厚度方向上的塞貝克系數(shù)和電阻率,可以測(cè)量的樣品薄為10μm。此外,ZEM-d與采用激光閃光法測(cè)量薄膜的熱擴(kuò)散率/導(dǎo)熱系數(shù)測(cè)量方向致,其測(cè)量結(jié)果可廣泛應(yīng)用于薄膜熱電材料的性能評(píng)價(jià)。
ZEM-d測(cè)量原理
現(xiàn)存測(cè)試方法 | ZEM-d(厚度方向測(cè)量) |
電阻率測(cè)量原理
聚合物薄膜厚度方向熱電性能評(píng)價(jià)系統(tǒng)塞貝克系數(shù)測(cè)量原理
ZEM-d技術(shù)參數(shù)
測(cè)量參數(shù) 塞貝克系數(shù),電阻率
溫度范圍 可達(dá)200℃(樣品表面)
樣品尺寸 截面:Φ20mm(Max),長度:0.01-20mm
測(cè)量氛圍 空氣或惰性氣體
軟件界面
相關(guān)分類
該廠商的其他產(chǎn)品
- F-CAL ADVANCE RIKO低熱阻襯底導(dǎo)熱性評(píng)價(jià)系統(tǒng)
- ADVANCE RIKO熱電制冷 熱電制冷器件評(píng)價(jià)裝置
- TCN-2ω 納米薄膜熱導(dǎo)率測(cè)試系統(tǒng)
- ONYX 石墨烯/二維材料電學(xué)性質(zhì)非接觸快速測(cè)量
- TC-1200RH 激光閃光法熱常數(shù)測(cè)量系統(tǒng)
- F-PEM 大氣環(huán)境下熱電材料性能評(píng)估系統(tǒng)
- Mini-PEM 小型熱電轉(zhuǎn)換效率測(cè)量系統(tǒng)
- PEM 熱電轉(zhuǎn)換效率測(cè)量系統(tǒng)